[發明專利]一種備自投裝置校驗系統以及方法

有效

• 申請號: 201611078582.0
• 申請日: 2016-11-30
• 公開（公告）號: CN107064664B
• 公開（公告）日: 2019-10-18
• 發明（設計）人: 劉冬生;梁材;夏衛中
• 申請（專利權）人: 國網山東省電力公司東明縣供電公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 北京超凡志成知識產權代理事務所(普通合伙) 11371
• 代理人: 馬維麗

1.一種利用備自投裝置校驗系統的備自投裝置校驗方法，其特征在于，所述備自投裝置校驗系統，包括：控制模塊、電壓輸出模塊、電流輸出模塊、信號反饋模塊、模擬斷路器組、輔助繼電器、圖像采集裝置、輸入/輸出模塊和接口模塊；

所述控制模塊，分別與所述電壓輸出模塊、所述電流輸出模塊、所述信號反饋模塊、所述模擬斷路器組、所述輔助繼電器、所述圖像采集裝置和輸入/輸出模塊連接；

所述輸入/輸出模塊，還與所述輔助繼電器連接；

所述接口模塊，分別與所述電壓輸出模塊、所述電流輸出模塊、所述信號反饋模塊、所述模擬斷路器組、所述輔助繼電器和待校驗的備自投裝置連接；

所述信號反饋模塊分別與所述電壓輸出模塊和所述電流輸出模塊連接；

所述圖像采集裝置，用于采集觸發備自投校驗指令的用戶的圖像，并將采集的圖像發送到所述控制模塊，其中，所述備自投校驗指令為所述用戶通過所述輸入/輸出模塊觸發的；

所述控制模塊，用于通過所述圖像采集裝置發送的所述圖像對所述用戶的身份進行驗證，并在所述用戶身份驗證通過后根據所述備自投校驗指令，對待校驗的所述備自投裝置進行帶電校驗；

所述方法包括：

獲取用戶觸發的備自投校驗指令，所述備自投校驗指令攜帶有用戶的標識信息、用戶的第一人臉圖像和校驗指令信息；

根據所述用戶的標識信息，查詢出預存的所述用戶的第二人臉圖像；

將所述用戶的第一人臉圖像劃分為多個圖像區域；

從多個所述圖像區域中，分別選擇k個圖像區域進行拼接，得到多個人臉子圖像，其中，多個所述圖像區域由所述第一人臉圖像自上而下平均劃分得到，k∈（, , ,…,m-1 ,m），m表示所述第一人臉圖像劃分的圖像區域數量；

對得到的所述多個人臉子圖像以及所述第二人臉圖像進行深度學習，得到所述第一人臉圖像和所述第二人臉圖像的特征差值圖；

對得到的所述特征差值圖進行深度學習，得到所述第一人臉圖像和所述第二人臉圖像的比對結果；

當得到所述第一人臉圖像和所述第二人臉圖像相似的對比結果時，向所述用戶終端發送眼球運動提示信息，使得用戶根據所述用戶終端上顯示的所述眼球運動提示信息進行眼球運動；

獲取用戶進行眼球運動時的多張眼球運動圖像；

從得到的所述用戶的多張眼球運動圖像中，獲取所述用戶的眼睛的注視點的運動軌跡；

當根據獲取到的眼睛的注視點的運動軌跡，確定所述用戶的眼睛是按照眼球運動提示信息的提示進行的運動時，根據所述校驗指令信息中記錄的校驗內容對待校驗的所述備自投裝置進行帶電校驗。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，對得到的所述多個人臉子圖像以及所述第二人臉圖像進行深度學習，得到所述第一人臉圖像和所述第二人臉圖像的特征差值圖包括：

對多個所述人臉子圖像和所述第二人臉圖像進行深度學習，得到多個第一人臉圖像特征圖和第二人臉圖像特征圖；

以預設的像素點坐標集合中存儲的各像素點坐標為特征值區域中心，按照預設的特征值區域尺寸，分別將當前第一人臉圖像特征圖和所述第二人臉圖像特征圖劃分為多個第一特征值區域和多個第二特征值區域；

從所述多個第一特征值區域和所述多個第二特征值區域中分別獲取特征最大值；

計算從具有相同特征值區域中心的第一特征值區域和第二特征值區域中獲取的特征最大值的差，得到多個特征差值；

以所述多個特征差值為像素值，按照預設的特征差值圖尺寸，生成所述當前第一人臉圖像特征圖和所述第二人臉圖像特征圖的特征差值圖。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，對得到的所述特征差值圖進行深度學習，得到所述第一人臉圖像和所述第二人臉圖像的比對結果，包括：

對得到的每個特征差值圖進行深度學習，得到每個所述特征差值圖對應的人臉子圖像與所述第二人臉圖像的相似參數；

確定最大的相似參數作為所述第一人臉圖像與所述第二人臉圖像的相似度；

當所述相似度大于等于設定的相似度閾值時，得到所述第一人臉圖像與所述第二人臉圖像相似的比對結果。