[發(fā)明專利]一種高加速沖擊下電子零組件的測試方法及測試系統(tǒng)在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201611075685.1 | 申請日： | 2016-11-30 |
| 公開（公告）號： | CN106405303A | 公開（公告）日： | 2017-02-15 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 占雯;葉志高 | 申請（專利權(quán)）人： | 環(huán)旭電子股份有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/00 | 分類號： | G01R31/00;G01R1/04;G01M7/08 |
| 代理公司： | 上海碩力知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所31251 | 代理人： | 郭桂峰 |
| 地址： | 201203 上海市浦東新區(qū)張*** | 國省代碼： | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 加速 沖擊 電子 零組件 測試 方法 系統(tǒng) | ||
【說明書】：
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