[發明專利]一種半導體器件及其制造方法和電子裝置有效
| 申請號: | 201611072290.6 | 申請日: | 2016-11-29 |
| 公開(公告)號: | CN108122732B | 公開(公告)日: | 2020-08-25 |
| 發明(設計)人: | 程晉廣;陳福成 | 申請(專利權)人: | 中芯國際集成電路制造(上海)有限公司;中芯國際集成電路制造(北京)有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/02 | 分類號: | H01L21/02;H01L21/60 |
| 代理公司: | 北京市磐華律師事務所 11336 | 代理人: | 董巍;高偉 |
| 地址: | 201203 *** | 國省代碼: | 上海;31 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 半導體器件 及其 制造 方法 電子 裝置 | ||
本發明提供一種半導體器件及其制造方法和電子裝置,涉及半導體技術領域。該方法包括:提供第一支撐襯底,在所述第一支撐襯底上形成第一激光解離層;在所述第一激光解離層上形成彼此間由開口隔離的若干圖案化的第一基底層;在每個所述圖案化的第一基底層上形成第一輔助器件,其中,在所述第一輔助器件的正面形成有若干第一引出線;提供器件晶圓,在所述器件晶圓上形成有主器件層,在所述主器件層上形成有與所述主器件層電連接的若干金屬柱;將在所述第一輔助器件的正面露出的部分所述第一引出線和部分所述金屬柱進行第一鍵合;進行第一激光解離,以將所述第一支撐襯底與所述第一基底層分離。
技術領域
本發明涉及半導體技術領域,具體而言涉及一種半導體器件及其制造方法和電子裝置。
背景技術
隨著通訊、智能家居的深入發展及廣泛應用,通訊類集成電路也在同步激增。
通常,絕大部分的芯片在終端的應用都需要配合一些類似濾波、整流、放大、諧振等輔助電路,以實現其最終的功能,如射頻器件等。而主芯片及其輔助電路通常會占用較大的PCB板面積,影響了芯片終端應用的集成度,使得芯片功能的多樣性及應用的廣泛性受到限制。
因此,有必要提出一種半導體器件的制造方法,解決上述技術問題。
發明內容
在發明內容部分中引入了一系列簡化形式的概念,這將在具體實施方式部分中進一步詳細說明。本發明的發明內容部分并不意味著要試圖限定出所要求保護的技術方案的關鍵特征和必要技術特征,更不意味著試圖確定所要求保護的技術方案的保護范圍。
針對現有技術的不足,本發明實施例一中提供一種半導體器件的制造方法,包括:
提供第一支撐襯底,在所述第一支撐襯底上形成第一激光解離層;
在所述第一激光解離層上形成彼此間由開口隔離的若干圖案化的第一基底層;
在每個所述圖案化的第一基底層上形成第一輔助器件,其中,在所述第一輔助器件的正面形成有若干第一引出線;
提供器件晶圓,在所述器件晶圓上形成有主器件層,在所述主器件層上形成有與所述主器件層電連接的若干金屬柱;
將在所述第一輔助器件的正面露出的部分所述第一引出線和部分所述金屬柱進行第一鍵合;
進行第一激光解離,以將所述第一支撐襯底與所述第一基底層分離。
進一步,在所述第一輔助器件的背面也形成有若干所述第一引出線。
進一步,在所述激光解離步驟之后,還包括以下步驟:
提供第二支撐襯底,在所述第二支撐襯底上形成第二激光解離層;
在所述第二激光解離層上形成彼此間由開口隔離的若干圖案化的第二基底層;
在每個所述圖案化的第二基底層上形成第二輔助器件,其中,在所述第二輔助器件的正面形成有若干第二引出線;
將部分所述第二引出線和從所述第一輔助器件的背面露出的部分所述第一引出線相對或將部分所述第二引出線和所述器件晶圓上露出的部分所述金屬柱相對,以進行第二鍵合;
進行第二激光解離,以將所述第二支撐襯底與所述第二基底層分離。
進一步,所述第一支撐襯底的材料為玻璃。
進一步,所述第一激光解離層能夠被波長從紅外到紫外中的一段波長或幾段波長的激光光源分解。
進一步,所述第一基底層包括有機絕緣層、無機絕緣層或金屬層。
進一步,所述有機絕緣層的材料包括聚酰亞胺或聚對苯撐苯并二噁唑。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于中芯國際集成電路制造(上海)有限公司;中芯國際集成電路制造(北京)有限公司,未經中芯國際集成電路制造(上海)有限公司;中芯國際集成電路制造(北京)有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201611072290.6/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:用于電子組件的圖案結構及其制造方法
- 下一篇:半導體元件與其制造方法
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





