[發明專利]觸控筆觸碰位置偵測方法及系統

有效

• 申請號: 201611070996.9
• 申請日: 2016-11-28
• 公開（公告）號: CN108121461B
• 公開（公告）日: 2021-02-09
• 發明（設計）人: 鄭建勇;施博盛;黃啟仁
• 申請（專利權）人: 敦泰電子有限公司
• 主分類號: G06F3/0354
• 分類號: G06F3/0354;G06F3/044
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 方丁一

本發明提出一種觸控筆觸碰位置偵測方法及系統，用以偵測一觸控筆在一觸碰偵測面板上的實際觸碰位置，該方法首先使用一電容觸碰偵測，以獲得該觸碰偵測面板的觸碰原始數據。再于該觸碰原始數據中選取一第一區域，并由該第一區域計算以獲得一第一偵測觸碰坐標。又于該觸碰原始數據中選取至少一第二區域，并由該至少一第二區域計算以獲得一輔助數據組。最后依據該第一偵測觸碰坐標及該輔助數據組，計算獲得一實際觸碰坐標。

技術領域

本發明關于觸碰位置偵測的技術領域，尤指一種觸控筆觸碰位置偵測方法及系統。

背景技術

圖1A為一現有電容觸控裝置100的外觀示意圖。電容觸控裝置100可以選擇搭配一觸控筆110使用。電容觸控裝置100具有一顯示面板120以及一觸碰感測層130。觸碰感測層130位于顯示面板120下方，其具有復數個觸碰感測節點131，用來感測觸控筆110觸碰顯示面板120時觸控筆110的位置。當觸控筆110觸碰顯示面板120時，觸碰感測層130可感測電容變化強弱程度，以判斷書寫位置、筆跡、壓力等信息。觸控筆110具有一方向軸111。方向軸111平行于觸控筆110的筆身。如圖1A所示，方向軸111與顯示面板120的表面形成一夾角角度θ。當一使用者手持觸控筆110且以90°方式觸碰顯示面板120時(θ等于90°)，觸控筆110觸碰感測節點133的區域。故其可偵測出觸控筆110觸碰感測節點133的區域。

圖1B為一現有電容觸控裝置100的使用示意圖。如圖1B所示，當使用者手持觸控筆110且以非垂直方式觸碰顯示面板120時(θ不等于90°)，由于觸控筆110本身為金屬導體，故其筆身亦會使觸碰感測層130產生電容變化。亦即除了觸碰感測節點133感測到電容變化外，觸碰感測節點135亦會感測到電容變化。因此會使偵測出的觸碰點位置向觸控筆110本身傾斜的方向偏移。圖2為一現有觸控筆110觸碰位置誤差的示意圖。如圖2所示，虛線210表示觸控筆110觸碰顯示面板120的實際位置，而實線220表示觸控筆110觸碰該顯示面板120時所感測出的位置。此觸碰的實際位置與感測位置的誤差會讓用戶在使用上產生許多困擾。因此，現有觸控筆觸碰位置偵測技術實仍有改善的空間。

發明內容

本發明的目的主要在提供一種觸控筆觸碰位置偵測方法及系統，其可修正觸控筆傾斜時的觸控坐標偏移，并可偵測觸控筆的傾斜角度與傾斜程度。于實際應用時，可以解決觸控筆傾斜的時候所產生感應訊號的重心偏移的問題，進而可改善使用者的使用經驗。

依據本發明的一特色，本發明提出一種觸控筆觸碰位置偵測方法，用以偵測一觸控筆在一觸碰偵測面板上的實際觸碰位置，該方法包括步驟：(A)使用一電容觸碰偵測，以獲得該觸碰偵測面板的觸碰原始數據；(B)于該觸碰原始數據中選取一第一區域，并由該第一區域計算以獲得一第一偵測觸碰坐標；(C)于該觸碰原始數據中選取至少一第二區域，并由該至少一第二區域計算以獲得一輔助數據組；以及(D)依據該第一偵測觸碰坐標及該輔助數據組，計算獲得一實際觸碰坐標。

依據本發明的另一特色，本發明提出一種具有觸控筆觸碰位置偵測的系統，該系統包括一觸碰偵測面板、及一處理單元。該處理單元連接至該觸碰偵測面板，該處理單元接收該觸碰偵測面板的觸碰原始數據。該處理單元于該觸碰原始數據中選取一第一區域，并由該第一區域計算獲得一第一偵測觸碰坐標。該處理單元于該觸碰原始數據中選取至少一第二區域，并由該至少一第二區域計算獲得一輔助數據組。依據該第一偵測觸碰坐標及該輔助數據組，該處理單元進行一計算以獲得一實際觸碰坐標。

附圖說明

圖1A為一現有為電容觸控裝置的外觀示意圖。

圖1B為一現有為電容觸控裝置的使用示意圖。

圖2為一現有觸控筆觸碰位置誤差的示意圖。

圖3為本發明的具有觸控筆觸碰位置偵測的系統的示意圖。

圖4為本發明的具有觸控筆觸碰位置偵測的系統的另一示意圖。