[發(fā)明專利]一種用于微波組件電源的專用自動化測試系統(tǒng)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201611070815.2
• 申請日: 2016-11-28
• 公開（公告）號: CN106597320B
• 公開（公告）日: 2019-01-11
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 胡文婷;李海波;曹辰磊;李燕;榮娜娜
• 申請（專利權(quán)）人: 北京衛(wèi)星制造廠
• 主分類號: G01R31/40
• 分類號: G01R31/40
• 代理公司: 中國航天科技專利中心 11009
• 代理人: 陳鵬

1.一種用于微波組件電源的專用自動化測試系統(tǒng)，其特征在于：包括測試儀器初始化模塊、電源參數(shù)設(shè)置模塊、一鍵測試功能模塊以及數(shù)據(jù)和波形采集判讀模塊；

測試儀器初始化模塊對測試儀器進行初始化設(shè)置；所述的測試儀器包括供電電源、電子負載、數(shù)據(jù)采集器和示波器；每臺測試儀器通過GPIB電纜、Agilent8511GPIB轉(zhuǎn)USB接口與計算機相連接，系統(tǒng)對每臺測試儀器分配唯一的GPIB地址，并對供電電源進行最大輸出電壓限制和最大輸出電流限制；

電源參數(shù)設(shè)置模塊用于設(shè)置待測試微波組件電源的各項測試參數(shù)，包括產(chǎn)品名稱和產(chǎn)品代號和產(chǎn)品序號和輸入電壓和三路輸出額定輸出電壓和三路輸出額定輸出電流；電源參數(shù)設(shè)置模塊將各個參數(shù)設(shè)置好后，發(fā)送給一鍵測試功能模塊；

一鍵測試功能模塊包括開關(guān)機指令發(fā)送單元、動態(tài)性能測試單元、穩(wěn)定度及效率測試單元、遙測性能測試單元、過流性能測試單元、慢速加斷電及拉偏性能測試單元、輸入反射紋波性能測試單元以及輸入浪涌性能測試單元；

開關(guān)機指令發(fā)送單元發(fā)送開、關(guān)機指令以及主備切換指令，控制待測試微波組件電源的開機、關(guān)機以及主備切換，以及控制一鍵測試功能模塊其他單元的開機、關(guān)機；

動態(tài)性能測試單元測試在主備聯(lián)合工作以及單備份工作狀態(tài)下，待測試微波組件電源的三路輸出，即分別在額定負載和不同的供電電壓條件下，測試輸出電壓的啟動時間、上沖和下陷值，將輸出電壓的啟動時間、上沖、下陷值和啟動波形發(fā)送給數(shù)據(jù)和波形采集判讀模塊；

穩(wěn)定度及效率測試單元測試在主備聯(lián)合工作狀態(tài)以及單備份工作狀態(tài)下，待測試微波組件電源在不同的供電電壓以及不同的輸出負載條件下，輸出電壓的穩(wěn)定度和效率，記錄待測試微波組件電源各路輸出電壓和輸出電流、待測試微波組件電源的供電電壓以及供電電流，并計算出待測試微波組件電源的效率，將記錄的待測試微波組件電源各路輸出電壓和輸出電流、待測試微波組件電源的供電電壓以及供電電流和待測試微波組件電源的效率值發(fā)送給數(shù)據(jù)和波形采集判讀模塊；

遙測性能測試單元測試在主備聯(lián)合工作狀態(tài)以及單備份工作狀態(tài)下，待測試微波組件電源在輸出額定負載條件下的三路遙測信號，并將測試出的遙測信號發(fā)送給數(shù)據(jù)和波形采集判讀模塊；

過流性能測試單元測試在主備聯(lián)合工作狀態(tài)以及單備份工作狀態(tài)下，待測試微波組件電源各路輸出從額定負載逐漸增大，當各路輸出電壓下降0.5V時的輸出電流值即為各路的過流保護值，將各路的過流保護值發(fā)送至數(shù)據(jù)和波形采集判讀模塊；

慢速加斷電及拉偏性能測試單元測試在主備聯(lián)合工作狀態(tài)以及單備份工作狀態(tài)下，待測試微波組件電源各路在額定負載條件下，供電電源由70V以2v的步進下降至0v，再由0v以2v的步進上升至70V的過程中待測試微波組件電源的輸出電壓值，將這個過程中的測試結(jié)果發(fā)送至數(shù)據(jù)和波形采集判讀模塊；

輸入反射紋波性能測試單元測試在主備聯(lián)合工作狀態(tài)以及單備份工作狀態(tài)下，待測試微波組件電源各路在額定負載條件和不同的供電電壓條件下，待測試微波組件電源的輸入反射紋波，將待測試微波組件電源的輸入反射紋波和反射紋波波形發(fā)送至數(shù)據(jù)和波形采集判讀模塊；

輸入浪涌性能測試單元測試在主備聯(lián)合工作狀態(tài)以及單備份工作狀態(tài)下，待測試微波組件電源各路在額定負載條件和不同的供電電壓條件下，待測試微波組件電源的輸入浪涌電流值和恢復(fù)時間，將浪涌電流值、恢復(fù)時間和浪涌波形發(fā)送至數(shù)據(jù)和波形采集判讀模塊；

數(shù)據(jù)和波形采集判讀模塊對一鍵測試功能模塊中的各個測試單元發(fā)送過來的測試數(shù)據(jù)和波形進行數(shù)據(jù)采集,并對各個測試數(shù)據(jù)進行判讀是否符合測試要求。