[發(fā)明專利]測力傳感器在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201611070246.1 | 申請日: | 2016-11-28 |
| 公開(公告)號: | CN108120531A | 公開(公告)日: | 2018-06-05 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 王建文;許宇軍;王偉 | 申請(專利權(quán))人: | 梅特勒-托利多(常州)精密儀器有限公司;梅特勒-托利多(常州)測量技術(shù)有限公司;梅特勒-托利多國際貿(mào)易(上海)有限公司 |
| 主分類號: | G01L1/22 | 分類號: | G01L1/22 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 213022 江*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 測力傳感器 第二端部 第一端部 平行導(dǎo)向機構(gòu) 第二連接部 第一連接部 主梁連接 撓性壁 應(yīng)變片 主梁 剛性壁 測量 | ||
本發(fā)明提供一種測力傳感器,其包括第一端部、第二端部、平行導(dǎo)向機構(gòu)、梁以及應(yīng)變片。平行導(dǎo)向機構(gòu)用于將第一端部和第二端部連接到一起。梁包括主梁、將主梁連接到第一端部的第一連接部以及將主梁連接到第二端部的第二連接部。主梁包括與第一連接部相連的撓性壁以及與第二連接部相連的剛性壁。應(yīng)變片固定于撓性壁。本發(fā)明的測力傳感器可以用于測量較小的容量。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種測力傳感器,尤其是一種應(yīng)變片式測力傳感器。
背景技術(shù)
美國專利公告第US4488611A號專利公開了一種測力傳感器,其包括第一端部、第二端部以及將第一端部和第二端部連接到一起的梁。所述梁包括主梁、將主梁與第一端部連接到一起的第一連接部以及將主梁與第二端部連接到一起的第二連接部。所述主梁設(shè)有圓柱形的型腔以及均勻分布的撓性壁。所述測量傳感器還包括貼于撓性壁且置于型腔內(nèi)的應(yīng)變片。由于撓性壁是均勻分布,導(dǎo)致應(yīng)力不集中,所以在測量時,很難做到小的容量。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種可以測量較小容量的測力傳感器。
根據(jù)本發(fā)明的一個方面,提供一種測力傳感器,其包括第一端部、第二端部、平行導(dǎo)向機構(gòu)、梁以及應(yīng)變片。平行導(dǎo)向機構(gòu)用于將第一端部和第二端部連接到一起。梁包括主梁、將主梁連接到第一端部的第一連接部以及將主梁連接到第二端部的第二連接部。主梁包括與第一連接部相連的撓性壁以及與第二連接部相連的剛性壁。應(yīng)變片固定于撓性壁。
優(yōu)選地,所述主梁上設(shè)有型腔,所述應(yīng)變片置于型腔內(nèi),所述測力傳感器還包括焊接密封型腔的蓋板。
優(yōu)選地,所述撓性壁的外側(cè)設(shè)有與第一連接部相連接的凸部,在凸部和第一連接部相交的地方設(shè)有兩個凹槽。
優(yōu)選地,所述撓性壁為主梁向外凹陷形成。
優(yōu)選地,所述應(yīng)變片置于第一連接部與撓性壁相交處的上方和/或下方。
優(yōu)選地,所述第一連接部為剛性梁,所述第二連接部為撓性梁。
優(yōu)選地,所述第二連接部包括水平延伸部,所述第二連接部上的撓性連接部位于第二連接部的水平延伸部上。
優(yōu)選地,所述第二連接部包括水平延伸部和豎直延伸部,所述第二連接部上的撓性連接部位于第二連接部的豎直延伸部上。
優(yōu)選地,所述第一端部為固定部,所述第二端部為受力部。
優(yōu)選地,所述應(yīng)變片置于靠近第一連接部與撓性壁相交處的區(qū)域。
本發(fā)明提供的測力傳感器通過應(yīng)變片固定于靠近撓性壁與第一連接部相交的區(qū)域,使的當(dāng)測力傳感器受力時,可以很好地測量出應(yīng)力的變化,可以測量出較小的力。
附圖說明
包括附圖是為提供對本發(fā)明進一步的理解,它們被收錄并構(gòu)成本申請的一部分,附圖示出了本發(fā)明的實施例,并與本說明書一起起到解釋本發(fā)明原理的作用。附圖中:
圖1為本發(fā)明的測力傳感器的立體圖。
圖2為本發(fā)明的去掉蓋板的測力傳感器的立體圖。
圖3為本發(fā)明的測力傳感器的剖視圖。
圖4為本發(fā)明的測力傳感器的另一實施例的立體圖。
圖5為圖4的測力傳感器去掉蓋板的立體圖。
圖6為圖5的測力傳感器另一角度的立體圖。
圖7為圖5的測力傳感器的截面圖。
圖8為圖5的測力傳感器的剖視圖。
具體實施方式
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于梅特勒-托利多(常州)精密儀器有限公司;梅特勒-托利多(常州)測量技術(shù)有限公司;梅特勒-托利多國際貿(mào)易(上海)有限公司,未經(jīng)梅特勒-托利多(常州)精密儀器有限公司;梅特勒-托利多(常州)測量技術(shù)有限公司;梅特勒-托利多國際貿(mào)易(上海)有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
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