[發明專利]無針痕電子測試治具在審
| 申請號： | 201611067466.9 | 申請日： | 2016-11-28 |
| 公開（公告）號： | CN106443417A | 公開（公告）日： | 2017-02-22 |
| 發明（設計）人： | 爵樂;吳欣 | 申請（專利權）人： | 上海三冉科技發展有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/28 | 分類號： | G01R31/28;G01R1/04;G01R1/073 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 201108 上海市華*** | 國省代碼： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 無針痕 電子 測試 | ||
【說明書】：
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