[發明專利]一種信號檢測裝置及其檢測內存信號的方法

在審

• 申請號: 201611066951.4
• 申請日: 2016-11-28
• 公開（公告）號: CN106776162A
• 公開（公告）日: 2017-05-31
• 發明（設計）人: 王鵬
• 申請（專利權）人: 鄭州云海信息技術有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22
• 代理公司: 濟南信達專利事務所有限公司37100
• 代理人: 李世喆

1.一種信號檢測裝置，其特征在于，包括：

第一連接件、第二連接件、擴展連接件和示波器；其中，

所述擴展連接件分別連接所述第一連接件、所述第二連接件和所述示波器；

所述第一連接件，用于連接外部待測內存，接收所述待測內存提供的發送信號及第一時鐘信號，并轉發至所述擴展連接件；

所述第二連接件，用于連接對應所述待測內存的外部待測印制電路板PCB，接收所述待測PCB提供的接收信號及第二時鐘信號，并轉發至所述擴展連接件；

所述擴展連接件，用于將接收的所述發送信號、所述第一時鐘信號、所述接收信號和所述第二時鐘信號轉發至所述示波器；

所述示波器，用于根據接收的所述發送信號、所述第一時鐘信號、所述接收信號和所述第二時鐘信號形成混合波形，并根據所述混合波形提供所述發送信號和所述接收信號分別對應的檢測結果。

2.根據權利要求1所述的信號檢測裝置，其特征在于，

所述示波器，包括：波形處理模塊、第一波形解析模塊、條件確定模塊、濾波處理模塊、第二波形解析模塊和檢測結果提供模塊；其中，

所述波形處理模塊，用于根據接收的所述發送信號、所述第一時鐘信號、所述接收信號和所述第二時鐘信號形成混合波形；

所述第一波形解析模塊，用于解析所述混合波形，以確定所述混合波形中的高電平信號特征區域、低電平信號特征區域及基準電平信號特征區域；

條件確定模塊，用于根據確定的所述高電平信號特征區域、低電平信號特征區域及基準電平信號特征區域，確定所述發送信號和所述接收信號分別對應的觸發條件；

濾波處理模塊，用于根據確定的所述發送信號對應的觸發條件對所述混合波形進行濾波處理，以形成所述發送信號對應的發送信號波形，以及根據確定的所述接收信號對應的觸發條件對所述混合波形進行濾波處理，以形成所述接收信號對應的接收信號波形；

第二波形解析模塊，用于解析所述發送信號波形以確定所述發送信號和所述第一時鐘信號之間對應的第一檢測結果，以及解析所述接收信號波形以確定所述接收信號和所述第二時鐘信號之間對應的第二檢測結果；

檢測結果提供模塊，用于提供所述傳輸第一檢測結果和所述第二檢測結果。

3.根據權利要求2所述的信號檢測裝置，其特征在于，

所述第二波形解析模塊，包括：波形解析單元和確定單元；其中，

所述波形解析單元，用于解析所述發送信號波形和所述接收信號波形，以形成對應所述發送信號的第一參考波形、對應所述第一時鐘信號的第二參考波形、對應所述接收信號的第三參考波形及對應所述第二時鐘信號的第四參考波形；

所述確定單元，用于根據所述第一參考波形和所述第二參考波形，確定所述發送信號對應的第一檢測結果，以及根據所述第三參考波形和所述第四參考波形確定所述接收信號對應的第二檢測結果。

4.根據權利要求1所述的信號檢測裝置，其特征在于，

所述檢測結果包括：信號傳輸時延、信號周期、信號上升沿時長、信號下降沿時長中的一項或多項。

5.根據權利要求1至4中任一所述的信號檢測裝置，其特征在于，

所述擴展連接件分別與所述第一連接件、所述第二連接件和所述示波器固定連接；

和/或，

所述第一連接件和所述待測內存壓接，所述第二連接件和對應所述待測內存的待測PCB壓接。

6.一種利用權利要求1至5中任一所述的信號檢測裝置檢測內存信號的方法，其特征在于，包括：

利用第一連接件連接待測內存，以及利用第二連接件連接對應所述待測內存的待測PCB；

利用第一連接件接收待測內存提供的發送信號及第一時鐘信號，并轉發至擴展連接件，以及利用第二連接件接收待測PCB提供的接收信號及第二時鐘信號，并轉發至擴展連接件；

利用擴展連接件將接收的所述發送信號、所述第一時鐘信號、所述接收信號和所述第二時鐘信號轉發至所述示波器；

利用示波器根據接收的所述發送信號、所述第一時鐘信號、所述接收信號和所述第二時鐘信號形成混合波形，并根據所述混合波形提供所述發送信號和所述接收信號分別對應的檢測結果。