[發明專利]一種紅外擺掃相機在軌圖像均勻性校正方法

有效

• 申請號: 201611066858.3
• 申請日: 2016-11-25
• 公開（公告）號: CN106600646B
• 公開（公告）日: 2019-05-24
• 發明（設計）人: 曹世翔;李巖;晉利兵;聶云松;何紅艷;江澄;周楠;張炳先;李方琦
• 申請（專利權）人: 北京空間機電研究所
• 主分類號: G06T7/80
• 分類號: G06T7/80;G01J5/00
• 代理公司: 中國航天科技專利中心 11009
• 代理人: 臧春喜

1.一種紅外擺掃相機在軌圖像均勻性校正方法，其特征在于，包括如下步驟：

第一步，根據星上高端溫度T_H和低端溫度T_L以及對應溫度下的黑體成像數據B_H和B_L，從相同成像條件下獲取的圖像中選擇符合修正用的DN值低端原始圖像I_L和DN值高端原始圖像I_H；I_L的直方圖峰值應在B_L的灰度均值±20％之間，I_H的直方圖峰值應在B_H灰度均值±20％之間；

第二步，根據黑體成像數據B_H和B_L，按兩點法計算對應的星上相對輻射校正系數K_Ri、C_Ri和絕對輻射校正系數K_Ai、C_Ai、ΔDN_Ai，若DN值低端原始圖像I_L和DN值高端原始圖像I_H同軌，則共用一組系數，否則需計算各自對應的系數；

第三步，利用星上定標系數，對DN值低端原始圖像I_L和DN值高端原始圖像I_H進行一次校正，得到DN值圖像I_LDN和I_HDN，按單掃的像元個數n及擺掃方向分別對DN值圖像I_LDN和I_HDN進行疊加，形成景內統計數據塊I_LMDN和I_HMDN；同理得到一次校正輻亮度圖像I_LLe和I_HLe，并得到疊加數據塊I_LMLe和I_HMLe；

第四步，對疊加數據塊I_LMLe和I_HMLe分別按兩點法計算DN值數據的均勻性修正系數及輻亮度數據的均勻性修正系數

第五步，對典型溫度下獲取的包含均勻景物的原始圖像G，計算對應軌的星上相對輻射校正系數K′_Ri、C′_Ri和絕對輻射校正系數K′_Ai、C′_Ai及ΔDN′_Ai；利用DN值數據的均勻性修正系數及輻亮度數據的均勻性修正系數計算最終用于DN值產品DN_G的校正系數K_RFi、C_RFi和輻亮度產品Le_G的校正系數K_AFi、C_AFi和ΔDN_AFi，并生成相應的產品；

第六步，對DN值產品DN_G和輻亮度產品Le_G進行均勻性檢驗，若不滿足要求，則重新回到第一步并選擇其他圖像生成修正系數；

第七步，若擺掃相機正反掃均成像，則第三步至第六步需按掃的方向獨立計算。

2.根據權利要求1所述的一種紅外擺掃相機在軌圖像均勻性校正方法，其特征在于：所述第一步中，符合修正用的DN值低端圖像I_L和DN值高端圖像I_H挑選原則如下：

星上定標黑體的高端溫度T_H和低端溫度T_L為紅外相機設計的溫度線性范圍，用于在控制均勻性校正精度的同時降低數據尋找難度，DN值低端圖像I_L的直方圖峰值應在B_L的灰度均值±20％之間；同理，DN值高端圖像I_H的直方圖峰值應在B_H灰度均值±20％之間。