[發明專利]太赫茲頻段功率放大芯片在片功率測試系統及測試方法

有效

• 申請號: 201611065710.8
• 申請日: 2016-11-28
• 公開（公告）號: CN106707134B
• 公開（公告）日: 2019-09-20
• 發明（設計）人: 陸海燕;孫巖;程偉;孔月嬋;陳堂勝
• 申請（專利權）人: 中國電子科技集團公司第五十五研究所
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 南京君陶專利商標代理有限公司 32215
• 代理人: 沈根水

本發明提出的是一種太赫茲（THz）頻段功率放大芯片在片功率測試系統，其結構包括處理器、探針臺、信號源、擴頻模塊、功率計、電源、左S彎及波導探針、右S彎及波導探針、直流探卡。其測試方法，包括：1）建立信號源輸出功率與擴頻模塊輸出功率之間對應關系；2）原有系統基礎上連接左、右S彎及波導探針；3）測試在片系統損耗；4）采集數據；5）處理器計算出待測太赫茲頻段功率放大芯片的輸入功率、輸出功率及增益；6）判定是否需要進行其它芯片的測試。優點：1）實現了THz功率放大芯片輸出功率、增益的精確測試；2）實現了對于THz功率放大器的在片自動測試，提高了測試效率。

技術領域

本發明涉及一種太赫茲頻段功率放大芯片在片功率測試系統及測試方法，所述的方法適用于太赫茲頻段的功率放大芯片的相關測試，屬于微波通信中的芯片測試領域。

背景技術

太赫茲（THz）波指頻率在100GHz-10THz范圍的電磁波，介于微波和光波之間，具有波長短、透過率高、帶寬寬等特點，太赫茲頻段在成像、頻譜檢測和高傳輸速率通信等方面具有廣闊的應用前景，在雷達系統軍事電子領域有重要的應用方向，如高精度雷達、反隱形雷達、保密通信和太赫茲成像探測等。

太赫茲功放芯片是支撐整個太赫茲固態系統的基石，是國內外太赫茲研究的基礎和熱點，THz頻段功率放大芯片在片功率測試系統及測試方法也是目前該領域的關鍵技術，同時由于該頻段信號小，因此如何實現該頻段功放芯片的精確測試是一個技術難點，本發明提出一種用于THz頻段功率放大芯片在片功率測試系統及測試方法，實現該頻段的在片測試效率提升，并確保測試精度。

發明內容

本發明提出的是一種太赫茲頻段功率放大芯片在片功率測試系統及測試方法，其目的旨在避免裝架測試效率低下的問題，同時實現THz波段功率放大芯片輸出功率及增益等參量的測試，提高測試精度。

本發明的技術解決方案：一種太赫茲頻段功率放大芯片在片功率測試系統，其結構包括處理器、探針臺、信號源、擴頻模塊、功率計、電源、左S彎及波導探針、右S彎及波導探針，其中，處理器的第一信號輸出/輸入端與探針臺的信號輸入/輸出端對應相接，處理器的第二信號輸出/輸入端與信號源的信號輸入/輸出端對應相接，處理器的第三信號輸入端與功率計的信號輸出端對應相接，處理器的第四信號與電源的輸入輸出端相連，同時電源的另外一個輸出端接探卡的信號輸入端，探卡的信號輸出端接待測件(DUT)的信號輸入端，信號源的信號輸出端連接擴頻模塊輸入端，擴頻模塊輸出端連接左S彎及波導探針輸入端，右S彎及波導探針輸出端與功率計的輸入端相接，左、右S彎及波導探針間連接待測件(DUT)。

其測試方法，包括如下步驟：

1）建立信號源輸出功率與擴頻模塊輸出功率之間對應關系；

2）在步驟1)的基礎上連接左S彎及波導探針和右S彎及波導探針；

3）測試在片系統損耗；

4）采集數據；

5）處理器計算出待測太赫茲頻段功率放大芯片的輸入功率、輸出功率及增益；

6）判定是否需要進行其它芯片的測試。

本發明的優點：

1）通過分別建立信號源與擴頻模塊輸出功率及信號源與待測件輸出功率的關系，從而計算得到THz功率放大芯片各頻點輸入輸出間的對應關系，解決了現有該頻段測試儀器輸出功率小，擴頻模塊輸出功率線形度差造成的測試精度下降的問題，實現了THz功率放大芯片輸出功率、增益等關鍵指標的精確測試；

2）實現了對于THz功率放大器的在片自動測試，提高了測試效率。

附圖說明

圖1建立信號源輸出功率與擴頻模塊輸出功率之間對應關系的系統框圖。