[發(fā)明專利]一種含烴儲(chǔ)集層核磁共振測井T2譜形態(tài)校正方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201611060529.8 | 申請日： | 2016-11-25 |
| 公開（公告）號： | CN106351652B | 公開（公告）日： | 2019-03-29 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 肖亮;毛志強(qiáng);鄒長春;王華;劉曉鵬;徐銳 | 申請（專利權(quán)）人： | 中國地質(zhì)大學(xué)（北京） |
| 主分類號： | E21B49/00 | 分類號： | E21B49/00 |
| 代理公司： | 北京中譽(yù)威圣知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11279 | 代理人： | 蔣常雪 |
| 地址： | 100083*** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 含烴儲(chǔ)集層 核磁共振 測井 t2 形態(tài) 校正 方法 | ||
【權(quán)利要求書】：
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