[發明專利]電阻校正電路與裝置

有效

• 申請號: 201611056072.3
• 申請日: 2016-11-24
• 公開（公告）號: CN108107964B
• 公開（公告）日: 2020-03-27
• 發明（設計）人: 劉凱尹;黃惠敏
• 申請（專利權）人: 瑞昱半導體股份有限公司
• 主分類號: G05F1/567
• 分類號: G05F1/567
• 代理公司: 北京德恒律治知識產權代理有限公司 11409
• 代理人: 章社杲;李偉

本發明揭露一種電阻校正電路，其一實施例包含：一參考電壓輸出電路，用來提供一參考電壓；一內部電阻，包含至少一正溫度系數電阻與至少一負溫度系數電阻，該內部電阻的電阻值是可調的；一參考電流產生電路，用來依據該參考電壓與該內部電阻產生一內部電阻參考電流，并用來依據該參考電壓與一外部電阻產生一外部電阻參考電流；一比較暨控制電路，用來依據該內部與外部電阻參考電流產生一比較結果，并用來依據該比較結果調整該內部電阻的電阻值直到該比較結果顯示該內部與外部電阻參考電流的差異小于一預設門檻或無法進一步減少為止。

技術領域

本發明是關于校正電路與裝置，尤其是關于電阻校正電路與裝置。

背景技術

一般而言，一積體電路需要運作于正確的電壓及/或電流底下，以達到預期的效能。目前技術通常利用一能帶間隙(bandgap)電路來產生一精準電壓Vbg，并利用此精準電壓Vbg以及位于一積體電路外部的一電阻Rext來產生一精準電流Vbg/Rext。

然而，上述電阻Rext與積體電路之間的連接需透過一接腳(pin)，在微型化與微利化的趨勢下，此額外的接腳對于電路微型化以及成本均有負面影響。此外，電阻Rext本身也會造成整體電路(包含該積體電路)的體積增加以及成本上升。

發明內容

鑒于先前技術的問題，本發明的一目的在于提供一種電阻校正電路與裝置，以改善先前技術。

本發明揭露一種電阻校正電路，其一實施例包含于一積體電路中，且該實施例包含一參考電壓輸出電路、一內部電阻、一參考電流產生電路以及一比較暨控制電路。所述參考電壓輸出電路用來提供一參考電壓。所述內部電阻的電阻值是可調的，包含至少一正溫度系數電阻與至少一負溫度系數電阻。所述參考電流產生電路用來依據該參考電壓與該內部電阻產生一內部電阻參考電流，并用來依據該參考電壓與一外部電阻產生一外部電阻參考電流。所述比較暨控制電路用來依據該內部電阻參考電流與該外部電阻參考電流產生一比較結果，并用來依據該比較結果調整該內部電阻的電阻值直到該比較結果顯示該內部電阻參考電流與該外部電阻參考電流的差異小于一預設門檻或無法進一步減少為止。

本發明另揭露一種電阻校正裝置，其一實施例包含一參考電壓輸出電路、一內部電阻、一內部開關、一外部電阻、一外部開關、一參考電流產生電路以及一比較暨控制電路。所述參考電壓輸出電路用來提供一參考電壓。所述內部電阻的電阻值是可調的，包含至少一正溫度系數電阻與至少一負溫度系數電阻。所述內部開關耦接于該參考電壓輸出電路與該內部電阻之間。所述外部開關耦接于該參考電壓輸出電路與該外部電阻之間。所述參考電流產生電路用來于該內部開關導通且該外部開關不導通時依據該參考電壓與該內部電阻產生一內部電阻參考電流，并用來于該內部開關不導通且該外部開關導通時依據該參考電壓與該外部電阻產生一外部電阻參考電流。所述比較暨控制電路，用來依據該內部電阻參考電流與該外部電阻參考電流產生一比較結果，從而依據該比較結果調整該內部電阻的電阻值直到該比較結果顯示該內部電阻參考電流與該外部電阻參考電流的差異小于一預設門檻或無法進一步減少為止，其中該參考電壓輸出電路、該內部開關、該內部電阻與該參考電流產生電路包含于一積體電路中，該外部電阻與該外部開關位于該積體電路之外，且該比較暨控制電路包含于該積體電路中或位于該積體電路之外。

有關本發明的特征、實作與功效，茲配合圖式作較佳實施例詳細說明如下。

附圖說明

圖1為本發明的電阻校正電路的一實施例的功能方塊圖；

圖2為圖1的電阻校正電路的一實施范例的示意圖；以及

圖3為圖2的電阻校正電路的一實施范例的示意圖。

符號說明

10 外部電阻

100 電阻校正電路

110 參考電壓輸出電路