[發明專利]一種存儲單元的讀取方法及裝置在審
| 申請號: | 201611051313.5 | 申請日: | 2016-11-24 |
| 公開(公告)號: | CN108109660A | 公開(公告)日: | 2018-06-01 |
| 發明(設計)人: | 張建軍;胡洪 | 申請(專利權)人: | 北京兆易創新科技股份有限公司 |
| 主分類號: | G11C16/26 | 分類號: | G11C16/26;G11C16/30 |
| 代理公司: | 北京品源專利代理有限公司 11332 | 代理人: | 孟金喆;胡彬 |
| 地址: | 100083 北京市海淀*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 存儲單元 讀取 存儲器芯片 參考電流 電流溫度特性 電流確定 讀取電壓 讀取性能 讀取指令 溫度確定 施加 | ||
1.一種存儲單元的讀取方法,其特征在于,包括:
接收讀取指令;
根據存儲器芯片的當前溫度以及存儲單元的電流溫度特性確定參考電流;
向所述存儲器芯片的存儲單元施加讀取電壓,以使所述存儲單元產生電流;
根據所述參考電流以及流過所述存儲單元的電流確定所述存儲單元的狀態。
2.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述根據存儲器芯片的當前溫度以及存儲單元的電流溫度特性確定參考電流,包括:
若所述存儲器芯片的當前溫度低于低溫預設值且存儲單元的電流溫度特性為正,基于基準電流值減小參考電流值;
若所述存儲器芯片的當前溫度低于低溫預設值且存儲單元的電流溫度特性為負,基于基準電流值增大參考電流值;
若所述存儲器芯片的當前溫度高于高溫預設值且存儲單元的電流溫度特性為正,基于基準電流值增大參考電流值;
若所述存儲器芯片的當前溫度高于高溫預設值且存儲單元的電流溫度特性為負,基于基準電流值減小參考電流值。
3.根據權利要求2所述的方法,其特征在于,所述基于基準電流值減小參考電流值,包括:
降低參考電路的電壓或者調節電流支路的控制檔位,以減小參考電流值。
4.根據權利要求2所述的方法,其特征在于,所述基于基準電流值增大參考電流值,包括:
增大參考電路的電壓或者調節電流支路的控制檔位,以增大參考電流值。
5.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述根據所述參考電流以及流過所述存儲單元的電流確定所述存儲單元的狀態,包括:
若所述流過所述存儲單元的電流大于所述參考電流,則所述存儲單元為編程態;
若所述流過所述存儲單元的電流小于所述參考電流,則所述存儲單元為擦除態。
6.一種存儲單元的讀取裝置,其特征在于,包括:
接收模塊,用于接收讀取指令;
參考電流確定模塊,用于根據存儲器芯片的當前溫度以及存儲單元的電流溫度特性確定參考電流;
施加模塊,用于向所述存儲器芯片的存儲單元施加讀取電壓,以使所述存儲單元產生電流;
存儲狀態確定模塊,用于根據所述參考電流以及流過所述存儲單元的電流確定所述存儲單元的狀態。
7.根據權利要求6所述的裝置,其特征在于,所述參考電流確定模塊包括:
減小單元,用于若所述存儲器芯片的當前溫度低于低溫預設值且存儲單元的電流溫度特性為正,基于基準電流值減小參考電流值;或
用于若所述存儲器芯片的當前溫度高于高溫預設值且存儲單元的電流溫度特性為負,基于基準電流值減小參考電流值;
增大單元,用于若所述存儲器芯片的當前溫度高于高溫預設值且存儲單元的電流溫度特性為正,基于基準電流值增大參考電流值;或
用于若所述存儲器芯片的當前溫度低于低溫預設值且存儲單元的電流溫度特性為負,基于基準電流值增大參考電流值。
8.根據權利要求7所述的裝置,其特征在于,所述減小單元具體用于:
降低參考電路的電壓或者調節電流支路的控制檔位,以減小參考電流值。
9.根據權利要求7所述的裝置,其特征在于,所述增大單元具體用于:
增大參考電路的電壓或者調節電流支路的控制檔位,以增大參考電流值。
10.根據權利要求6所述的裝置,其特征在于,所述存儲狀態確定模塊包括:
編程態確定單元,用于若所述流過所述存儲單元的電流大于所述參考電流,則所述存儲單元為編程態;
擦除態確定單元,用于若所述流過所述存儲單元的電流小于所述參考電流,則所述存儲單元為擦除態。
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