[發(fā)明專利]一種I型裂紋的應(yīng)力強度因子測定方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201611051027.9 | 申請日: | 2016-11-24 |
| 公開(公告)號: | CN107064288B | 公開(公告)日: | 2020-10-20 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 薛楠;曾晨暉;邊智;胡騰越;孫勝;邵將;杜鑫 | 申請(專利權(quán))人: | 中國航空綜合技術(shù)研究所 |
| 主分類號: | G01N27/83 | 分類號: | G01N27/83 |
| 代理公司: | 中國航空專利中心 11008 | 代理人: | 陳宏林 |
| 地址: | 100028*** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 裂紋 應(yīng)力 強度 因子 測定 方法 | ||
本發(fā)明是一種I型裂紋的應(yīng)力強度因子測定方法,該方法的步驟如下:步驟一、采用無損檢測技術(shù)確定結(jié)構(gòu)中I型裂紋的位置,然后測量I型裂紋的表面長度αL;步驟二、沿I型裂紋的表面長度αL,測量I型裂紋的埋藏深度αD;步驟三、對結(jié)構(gòu)中的I型裂紋進行受力分析,確定外加應(yīng)力σ;步驟四、根據(jù)步驟一、步驟二中確定的I型裂紋的幾何特征,通過查詢相關(guān)材料手冊獲得I型裂紋的形狀因子Y;步驟五、以I型裂紋的表面長度αL、埋藏深度αD、外加應(yīng)力σ和形狀因子Y作為輸入,采用解析計算法/數(shù)值法求解I型裂紋的應(yīng)力強度因子。該方法工序簡單但精度很高,能夠有效提高I型應(yīng)力強度因子計算結(jié)果的精度和置信度。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明是一種I型裂紋的應(yīng)力強度因子測定方法,屬于測量測量領(lǐng)域。
背景技術(shù)
應(yīng)力強度因子作為裂紋尖端應(yīng)力場強度的度量,是進行結(jié)構(gòu)的剩余強度安全評定、壽命估算、失效分析和材料斷裂韌性測量的重要力學(xué)參量。I型裂紋是工程上最為常見也最為危險的裂紋形式,如何計算I型裂紋的應(yīng)力強度因子KI是斷裂力學(xué)中的重要問題。
應(yīng)力強度因子KI與外加應(yīng)力σ、裂紋尺寸α和形狀因子Y有關(guān),即:
KI=Y(jié)σ√α
其中裂紋尺寸α不僅是求解KI的輸入,同時也決定了形狀因子Y的取值,是一個非常關(guān)鍵的參數(shù)。
相比實驗室階段,工程中獲取裂紋尺寸α要更為復(fù)雜。工程結(jié)構(gòu)中裂紋尺寸α包括表面裂紋長度αL和裂紋深度αD這兩組維度的信息,其中裂紋深度αD通常是肉眼不可見的,測量困難;并且裂紋深度αD沿表面長度αL方向的分布特征也不盡相同。要在不破壞工程結(jié)構(gòu)完整性的前提下準(zhǔn)確描述裂紋尺寸α的完整特征是一個亟待解決的技術(shù)難題,這也嚴重限制了K1在工程中的應(yīng)用。
無損檢測技術(shù)能夠在不損害被檢測對象的結(jié)構(gòu)與使用性能的前提下,利用材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)異常或缺陷存在引起的熱、聲、光、電和磁等參量的變化,以物理或化學(xué)的方法為手段,借助現(xiàn)代化的技術(shù)和設(shè)備器材,對被檢測對象內(nèi)部及表面的結(jié)構(gòu)、性質(zhì)、狀態(tài)及缺陷的類型、性質(zhì)、數(shù)量、形狀、位置、尺寸、分布及其變化進行檢查和測試的方法。
無損檢測技術(shù)的檢測原理不同,對裂紋尺寸α不同維度信息的感知程度也不相同。因此通過優(yōu)選并組合合適的無損檢測技術(shù)測定工程結(jié)構(gòu)中裂紋尺寸α,可以有效抑制非相關(guān)維度信息的干擾,能夠更為準(zhǔn)確地描述結(jié)構(gòu)裂紋的真實特征;進而將測量結(jié)果作為應(yīng)力強度因子KI求解方法的輸入,可以大幅度計算結(jié)果的精度與置信度。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明針對已有技術(shù)的不足之處,提出了一種I型裂紋的應(yīng)力強度因子測定方法,其目的是實時快速地掌握I型裂紋的應(yīng)力強度因子分布特征,能夠為工程結(jié)構(gòu)檢驗維修方案的制定提供更加合理且更有針對性的指導(dǎo),提高了工程結(jié)構(gòu)服役的安全性和可靠性。
本發(fā)明的目的是通過以下技術(shù)方案來實現(xiàn)的:
該種I型裂紋的應(yīng)力強度因子測定方法中,所述I型裂紋是指承受垂直于裂紋面的正應(yīng)力作用,裂紋面的位移垂直于正應(yīng)力方向的張開型裂紋,其特征在于:該方法的步驟為:
步驟一、采用無損檢測技術(shù)確定結(jié)構(gòu)中I型裂紋的位置,然后測量I型裂紋的表面長度αL;
步驟二、沿I型裂紋的表面長度αL,測量I型裂紋的埋藏深度αD;
步驟三、對結(jié)構(gòu)中的I型裂紋進行受力分析,確定外加應(yīng)力σ;
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國航空綜合技術(shù)研究所,未經(jīng)中國航空綜合技術(shù)研究所許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
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