[發明專利]一種檢測電力開關X射線圖像質量判定方法有效
| 申請號： | 201611047348.1 | 申請日： | 2016-11-22 |
| 公開（公告）號： | CN106706678B | 公開（公告）日： | 2019-08-13 |
| 發明（設計）人： | 劉榮海;唐法慶;楊迎春;郭新良;耿磊昭;鄭欣;許宏偉 | 申請（專利權）人： | 云南電網有限責任公司電力科學研究院 |
| 主分類號： | G01N23/04 | 分類號： | G01N23/04 |
| 代理公司： | 北京弘權知識產權代理事務所(普通合伙) 11363 | 代理人： | 逯長明;許偉群 |
| 地址： | 650217 云南省昆*** | 國省代碼： | 云南;53 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 像質計 電力開關 圖像信息 成像板 質量判定 種檢測 雙絲 判定 照射X射線 間隔距離 完整成像 預設距離 最小距離 組圖像 成像 照射 篩選 圖像 | ||
1.一種檢測電力開關X射線圖像質量判定方法，其特征在于，所述方法包括：
在電力開關外殼的兩側分別設置第一像質計和第二像質計；
向所述電力開關多次進行X射線照射；
獲取每次照射每個像質計在成像板上的圖像信息，具體包括：提取每次照射每個像質計在成像板上多組雙絲的圖像信息；篩選出每個像質計成像信息中的雙絲最小間隔距離；
根據所述每個像質計成像信息中的雙絲最小間隔距離判定X射線圖像質量，具體包括：如果所述最小間隔距離小于或等于預設距離，則X射線圖像質量高；或者，如果所述最小間隔距離大于所述預設距離，則X射線圖像質量不高。
2.根據權利要求1所述的檢測電力開關X射線圖像質量判定方法，其特征在于，
所述在電力開關外殼的兩側分別設置第一像質計和第二像質計，包括：
將所述第一像質計和所述第二像質計錯開設置在所述電力開關外殼的兩側，使得所述第一像質計和所述第二像質計的受光面不重合。
3.根據權利要求2所述的檢測電力開關X射線圖像質量判定方法，其特征在于，所述向所述電力開關多次進行X射線照射，包括：
使得X射線垂直于所述第一像質計和所述第二像質計的受光面，按照預設照射頻率對所述電力開關多次進行X射線照射。
4.根據權利要求2或3所述的檢測電力開關X射線圖像質量判定方法，其特征在于，
所述第一像質計和所述第二像質計平行設置。
5.根據權利要求4所述的檢測電力開關X射線圖像質量判定方法，其特征在于，所述第一像質計和所述第二像質計為銅鋁像質計，且每個像質計的銅絲和鋁絲采用間隔設置。
6.根據權利要求5所述的檢測電力開關X射線圖像質量判定方法，其特征在于，每個像質計的每組銅絲和鋁絲的間隔距離依次逐漸減小。
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