[發(fā)明專利]一種提高大氣探測傅里葉光譜儀信噪比的方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201611045931.9 | 申請日: | 2016-11-22 |
| 公開(公告)號: | CN106841086B | 公開(公告)日: | 2019-05-24 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 王建宇;榮鵬;于雙江;蘇浩航;倪建軍;張磊;閆靜純;程甘霖;黃競 | 申請(專利權(quán))人: | 北京空間機(jī)電研究所 |
| 主分類號: | G01N21/3504 | 分類號: | G01N21/3504;G01J3/45 |
| 代理公司: | 中國航天科技專利中心 11009 | 代理人: | 安麗 |
| 地址: | 100076 北京市豐*** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 提高 大氣 探測 傅里葉 光譜儀 方法 | ||
1.一種提高大氣探測傅里葉光譜儀信噪比的方法,其特征在于步驟如下:
(1)將周期為T0的高頻時鐘作為參考時鐘信號,對傅里葉光譜儀激光干涉信號的過零點(diǎn)脈沖進(jìn)行采樣,記錄過零點(diǎn)脈沖當(dāng)前周期內(nèi)參考時鐘的整周期個數(shù)計數(shù)值為n2,過零點(diǎn)脈沖當(dāng)前周期的前一周期內(nèi)參考時鐘的整周期個數(shù)計數(shù)值為n1,所述過零點(diǎn)脈沖周期即為傅里葉光譜儀激光干涉信號的過零點(diǎn)脈沖周期;
(2)根據(jù)步驟(1)的n1,將當(dāng)前周期的傅里葉光譜儀激光干涉信號過零點(diǎn)脈沖細(xì)分成若干等時間間隔的子脈沖;
(3)對進(jìn)入傅里葉光譜儀的紅外干涉信號進(jìn)行采樣,紅外干涉信號的采樣觸發(fā)信號為步驟(2)中細(xì)分后的子脈沖,采樣后得到紅外干涉數(shù)據(jù);
(4)將步驟(3)中采集到的紅外干涉數(shù)據(jù)的采樣點(diǎn)時間坐標(biāo)信息變換成光程差坐標(biāo)信息;
(5)對步驟(4)中的紅外干涉數(shù)據(jù)以每相鄰的過零點(diǎn)之間為一數(shù)據(jù)段,進(jìn)行多項(xiàng)式插值計算,并按等光程差重采樣,得到重采樣數(shù)據(jù);
(6)對步驟(5)中重采樣數(shù)據(jù)進(jìn)行降采樣數(shù)字濾波,得到去噪聲的紅外干涉數(shù)據(jù)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種提高大氣探測傅里葉光譜儀信噪比的方法,其特征在于:所述步驟(2)中將當(dāng)前周期的傅里葉光譜儀激光干涉信號過零點(diǎn)脈沖細(xì)分成若干等時間間隔的子脈沖的方法為:將前一周期內(nèi)過零點(diǎn)脈沖的參考時鐘計數(shù)值n1當(dāng)作當(dāng)前過零點(diǎn)脈沖周期的時間間隔,則對當(dāng)前過零點(diǎn)脈沖周期τ0等分,新的子脈沖周期為int為取整。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種提高大氣探測傅里葉光譜儀信噪比的方法,其特征在于:所述步驟(4)中紅外干涉數(shù)據(jù)的采樣點(diǎn)時間坐標(biāo)信息變換成光程差坐標(biāo)信息的方法為:轉(zhuǎn)換公式為OPD=8Rωt,其中,OPD為光程差坐標(biāo)信息,R為發(fā)出激光干涉信號的傅里葉光譜儀的擺臂長,ω為發(fā)出激光干涉信號的傅里葉光譜儀的擺臂轉(zhuǎn)動角速度,t為時間坐標(biāo)信息。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種提高大氣探測傅里葉光譜儀信噪比的方法,其特征在于:所述步驟(5)中對步驟(4)中的紅外干涉數(shù)據(jù)以每相鄰的過零點(diǎn)之間為一數(shù)據(jù)段,進(jìn)行多項(xiàng)式插值計算,并按等光程差重采樣,得到重采樣數(shù)據(jù)方法為:把每一個周期過零點(diǎn)脈沖作為一個插值區(qū)間,對當(dāng)前周期過零點(diǎn)脈沖τ0等分,則插值區(qū)間內(nèi)共有τ0個紅外干涉采樣數(shù)據(jù),加上插值區(qū)間下邊界的一個紅外干涉采樣數(shù)據(jù),共τ0+1個紅外干涉采樣數(shù)據(jù)作為本區(qū)間的插值點(diǎn)進(jìn)行多項(xiàng)式插值,計算插值函數(shù)L(x),并按照等光程差對插值函數(shù)L(x)進(jìn)行重采樣,得到重采樣數(shù)據(jù),重采樣點(diǎn)數(shù)為τ1。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種提高大氣探測傅里葉光譜儀信噪比的方法,其特征在于:所述的步驟(6)中對步驟(5)中重采樣數(shù)據(jù)進(jìn)行降采樣數(shù)字濾波,得到去噪聲的紅外干涉數(shù)據(jù)方法為:將每一個周期過零點(diǎn)脈沖內(nèi)按照等光程差重采樣的τ1個數(shù)據(jù)進(jìn)行求均值,此均值作為當(dāng)前周期過零點(diǎn)脈沖的輸出值,則把采樣數(shù)據(jù)由τ1個降采樣為1個。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于北京空間機(jī)電研究所,未經(jīng)北京空間機(jī)電研究所許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201611045931.9/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 上一篇:紅外線照射器
- 下一篇:磁共振成像系統(tǒng)(支持全身一體化成像)
- 同類專利
- 專利分類
G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





