[發明專利]一種樣品固定裝置及用該裝置進行古地磁場強度實驗的方法

在審

• 申請號: 201611044845.6
• 申請日: 2016-11-24
• 公開（公告）號: CN106772647A
• 公開（公告）日: 2017-05-31
• 發明（設計）人: 程燕君;吳智平;李偉;劉一鳴;王政凱;盧姝男
• 申請（專利權）人: 程燕君
• 主分類號: G01V3/40
• 分類號: G01V3/40
• 代理公司: 北京科億知識產權代理事務所(普通合伙)11350
• 代理人: 湯東鳳

1.一種樣品固定裝置，它包含實驗爐支架、樣品固定支架、測量固定支架，其特征在于：所述樣品固定支架分別與實驗爐支架、測量固定支架配合連接。

2.根據權利要求1所述的一種樣品固定裝置，其特征在于：所述的實驗爐支架上設置有凹槽口。

3.根據權利要求1所述的一種樣品固定裝置，其特征在于：所述的樣品固定支架包括固定銷、固定銷孔、樣品孔、卡槽、第一平面、斜面；所述樣品固定支架的截面為凸字型，且與實驗爐支架上的凹槽過盈配合連接，所述樣品固定支架的上端設置有第一平面，所述第一平面的中間設置有固定銷孔，所述固定銷孔與固定銷過盈配合連接，所述樣品固定支架的中上端設置有樣品孔，所述樣品固定支架兩側的中端設置有斜面，所述斜面上設置有卡槽。

4.根據權利要求1所述的一種樣品固定裝置，其特征在于：所述的測量固定支架上設置有凹槽，且凹槽與樣品固定支架過盈配合連接。

5.一種古地磁場強度實驗的方法，其特征在于：包括以下步驟：(1)、樣品的取樣：先將樣品進行方向標記；然后通過鉆機進行取樣，取樣時根據樣品固定支架上的樣品孔大小，決定樣品直徑大小；(2)、固定樣品：將取好的樣品進行表面打磨，盡量使樣品平整，且放置在樣品固定架上的樣品孔內，然后將固定銷放入固定銷孔內，將樣品壓緊；(3)、古強度實驗處理：將帶樣品的樣品固定支架放在實驗爐支架的凹槽內，且樣品固定支架兩側的卡槽與實驗爐支架的兩側卡接，對樣品進行古強度實驗處理；(4)、古地磁場強度測量：將經過古強度實驗處理的帶樣品的樣品固定支架放入測量固定支架的凹槽中，通過測量儀器進行剩磁測量。