[發明專利]一種基于投影譜聚類算法的去除SAR圖像斑點的方法有效
| 申請號: | 201611044300.5 | 申請日: | 2016-11-24 |
| 公開(公告)號: | CN106778814B | 公開(公告)日: | 2020-06-12 |
| 發明(設計)人: | 管濤;常金玲;趙怡;劉寧;董贊強 | 申請(專利權)人: | 鄭州航空工業管理學院 |
| 主分類號: | G06K9/62 | 分類號: | G06K9/62;G06T7/00;G06K9/40 |
| 代理公司: | 洛陽公信知識產權事務所(普通合伙) 41120 | 代理人: | 炊萬庭 |
| 地址: | 450000 河*** | 國省代碼: | 河南;41 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 基于 投影 譜聚類 算法 去除 sar 圖像 斑點 方法 | ||
1.一種基于投影譜聚類算法的去除SAR圖像斑點的方法,其特征是:包括以下步驟:
S1:圖像分解環節:
s101.按照設定的大小s×t將圖像以不重疊的正方形或者長方形進行分塊,得到圖像子塊;并設定圖像子塊聚類數,建立數字標簽對應像素類別對照表;
s102.不改變圖像子塊的位置,依次將每個圖像子塊的像素值按列疊加,形成向量集,按列構成矩陣;
其中,由列構成的矩陣為r=st;
分別標準化各列:假設則令得到B=(B1,B2,…,Bk)=(bij)r×k,k為圖像子塊的數量;
S2.去除斑點環節:
s201.通過S1環節中的向量集計算圖像子塊向量之間的相似度,構造相似矩陣,矩陣的對角線為0;
s202.計算度矩陣;
s203.利用度矩陣與相似矩陣變換,得到標準化相似矩陣;
s204.使用隨機生成的高斯隨機變量右乘標準化相似矩陣,得到投影向量,構成低秩矩陣;
s205.將標準化相似矩陣投影到低秩矩陣:Y=(SST)PWS∈Rk×m,m<<k,其中,W為標準化相似矩陣;p表示投影后矩陣特征值的絕對值衰減的速度,p值越大衰減越快;ST為S的轉置;k為圖像子塊數量;S為隨機變量矩陣;m高斯隨機矩陣的個數;
s206.使用奇異值分解和QR分解計算低秩矩陣的左奇異值向量:
其中,QR分解為:Y=QR,Q∈Rk×m,R∈Rm×m;B=QTW∈Rm×k;
其中,奇異值分解為:B=U1ΣVT,U1∈Rm×m;使用奇異值分解后,得到s101環節中的子塊圖像中與平坦地區區別的主體結構,從而識別目標區域;k為圖像子塊數量;m高斯隨機矩陣的個數;
其中,U1為左奇異向量;V為右奇異向量,VT為V的轉置;
s207.使用k-means算法聚類左奇異值向量的行,令U=QU1∈Rk×m,得到標簽矩陣L;所述的L共有k0個類;
S3.還原圖片環節:
S301.對L中的每個數字標簽按s101環節圖像子塊的分塊大小進行放大,得到與原圖像大小一致的標簽圖像,將標簽圖像中的數字標簽對應像素類別,得到分割后去除斑點的圖像。
2.根據權利要求1所述的一種基于投影譜聚類算法的去除SAR圖像斑點的方法,其特征是:s202環節中的度矩陣D=diag(β1,β2,…,βk),構造s203環節中的標準化相似矩陣W=D-1/2W1D-1/2,W∈Rk×k,為W1的第t行、第j列分量。
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