[發明專利]一種圖像邊緣檢測算法評價系統及方法

有效

• 申請號: 201611044020.4
• 申請日: 2016-11-24
• 公開（公告）號: CN106600615B
• 公開（公告）日: 2019-07-12
• 發明（設計）人: 胡志宇;岳靜靜
• 申請（專利權）人: 上海交通大學
• 主分類號: G06T7/13
• 分類號: G06T7/13;G06T7/181
• 代理公司: 上?？剖⒅R產權代理有限公司 31225
• 代理人: 翁惠瑜

1.一種圖像邊緣檢測算法評價系統，其特征在于，包括：

標準邊緣矩陣構造模塊，獲取標準參考圖像并調整尺寸，讀取經尺寸調整后的標準參考圖像的像素矩陣，構造標準邊緣矩陣；

圖像融合模塊，將經尺寸調整后的標準參考圖像融合入待測圖像中，獲得融合圖像；

邊緣檢測模塊，以待評價算法對所述融合圖像進行邊緣檢測，提取融合區域，獲得參考圖像矩陣；

比對模塊，將所述標準邊緣矩陣和參考圖像矩陣進行比對，獲得待評價算法的評價結果。

2.根據權利要求1所述的圖像邊緣檢測算法評價系統，其特征在于，所述標準邊緣矩陣構造模塊包括：

像素矩陣讀取單元，用于讀取像素矩陣；

灰度值重置單元，用于從所述像素矩陣中獲得灰度值突變的像素，將其灰度值重置為255，其余灰度值重置為0，獲得標準邊緣矩陣。

3.根據權利要求1所述的圖像邊緣檢測算法評價系統，其特征在于，所述比對模塊包括：

誤差計算單元，用于計算所述標準邊緣矩陣與參考圖像矩陣的均方根誤差；

缺失像素計算單元，用于計算所述參考圖像矩陣相比標準邊緣矩陣缺失255像素點的缺失個數；

評價單元，用于根據所述均方根誤差和缺失個數獲得待評價算法的評價結果，均方根誤差越小，待評價算法對待測圖像的適用性越好，缺失個數越小，待評價算法對待測圖像的適用性越好。

4.一種圖像邊緣檢測算法評價方法，其特征在于，包括：

獲取標準參考圖像并調整尺寸，讀取經尺寸調整后的標準參考圖像的像素矩陣；

將經尺寸調整后的標準參考圖像融合入待測圖像中，獲得融合圖像；

以待評價算法對所述融合圖像進行邊緣檢測，提取融合區域，獲得參考圖像矩陣；

將所述標準邊緣矩陣和參考圖像矩陣進行比對，獲得待評價算法的評價結果。

5.根據權利要求4所述的圖像邊緣檢測算法評價方法，其特征在于，所述標準邊緣矩陣通過以下步驟獲取：

讀取像素矩陣；

從所述像素矩陣中獲得灰度值突變的像素，將其灰度值重置為255，其余灰度值重置為0，獲得標準邊緣矩陣。

6.根據權利要求4所述的圖像邊緣檢測算法評價方法，其特征在于，所述將所述標準邊緣矩陣和參考圖像矩陣進行比對具體包括：

計算所述標準邊緣矩陣與參考圖像矩陣的均方根誤差；

計算所述參考圖像矩陣相比標準邊緣矩陣缺失255像素點的缺失個數；

根據所述均方根誤差和缺失個數獲得待評價算法的評價結果，均方根誤差越小，待評價算法對待測圖像的適用性越好，缺失個數越小，待評價算法對待測圖像的適用性越好。