[發(fā)明專利]一種制備Ag2ZnSnS4同質(zhì)結(jié)薄膜電池的方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201611041994.7 | 申請(qǐng)日: | 2016-11-24 |
| 公開(公告)號(hào): | CN106384760B | 公開(公告)日: | 2017-09-08 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 丁建寧;馬昌昊;袁寧一;郭華飛;張克智 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 常州大學(xué) |
| 主分類號(hào): | H01L31/18 | 分類號(hào): | H01L31/18;H01L31/068;H01L31/032 |
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| 地址: | 213164 江蘇*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 制備 ag2znsns4 同質(zhì) 薄膜 電池 方法 | ||
1.一種制備Ag2ZnSnS4同質(zhì)結(jié)薄膜電池的方法,其特征在于,包括:
提供SLG襯底;
在所述SLG襯底上磁控濺射Mo靶材形成Mo電極層;
在所述Mo電極層上依次濺射SnS、ZnS、Ag三種靶材,形成疊層AZT前驅(qū)體結(jié)構(gòu);
在所述疊層AZT前驅(qū)體結(jié)構(gòu)上共同濺射SnS、ZnS、Ag三種靶材,形成AZT前驅(qū)體薄膜;
將所述AZT前驅(qū)體薄膜硫化退火,形成AZTS半導(dǎo)體薄膜;
在所述AZTS半導(dǎo)體薄膜上濺射形成本征ZnO層;
在所述本征ZnO層上濺射形成ITO層;
在ITO層上蒸發(fā)制備銀電極層,形成Ag2ZnSnS4同質(zhì)結(jié)薄膜電池。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的制備Ag2ZnSnS4同質(zhì)結(jié)薄膜電池的方法,其特征在于,所述Mo電極層的厚度為600nm,所述AZT前驅(qū)體薄膜的厚度共為900nm,所述銀電極層的厚度為150nm。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的制備Ag2ZnSnS4同質(zhì)結(jié)薄膜電池的方法,其特征在于,在提供SLG襯底之前還包括步驟:對(duì)SLG玻璃依次用泡沫水,丙酮,乙醇和去離子水超生清洗,然后干燥。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的制備Ag2ZnSnS4同質(zhì)結(jié)薄膜電池的方法,其特征在于,所述在所述SLG襯底上磁控濺射Mo靶材形成Mo電極層包括:將清洗干凈的SLG襯底放入濺射腔體,采用磁控濺射單靶沉積方法,濺射靶材為Mo靶材,工作氣體為99.999%濃度的氬氣,工作氣壓為0.7pa,功率為90W制得Mo電極層。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的制備Ag2ZnSnS4同質(zhì)結(jié)薄膜電池的方法,其特征在于,所述在所述Mo電極層上依次濺射SnS、ZnS、Ag三種靶材,形成疊層AZT前驅(qū)體結(jié)構(gòu)包括:采用SnS,ZnS,Ag三種靶材按照順序疊層濺射,將具有所述Mo電極層的SLG襯底放入濺射腔體,工作氣體為99.999%濃度的氬氣,工作壓強(qiáng)為0.7Pa,SnS、ZnS、Ag三種靶材的功率分別為60W,90W,60W,濺射時(shí)間分別為80、75、15分鐘,形成疊層AZT前驅(qū)體結(jié)構(gòu)。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的制備Ag2ZnSnS4同質(zhì)結(jié)薄膜電池的方法,其特征在于,所述在所述疊層AZT前驅(qū)體結(jié)構(gòu)上共同濺射SnS、ZnS、Ag三種靶材,形成AZT前驅(qū)體薄膜包括:采用磁控濺射多靶共沉積方法,用SnS、ZnS、Ag三種靶材進(jìn)行共濺,工作氣體為99.999%濃度的氬氣,工作壓強(qiáng)為0.7Pa,SnS、ZnS、Ag三種靶材的功率分別為36W,90W,10W,濺射時(shí)間為5min,形成AZT前驅(qū)體薄膜。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的制備Ag2ZnSnS4同質(zhì)結(jié)薄膜電池的方法,其特征在于,所述將所述AZT前驅(qū)體薄膜硫化退火,形成AZTS半導(dǎo)體薄膜包括:將具有AZT前驅(qū)體薄膜的SLG襯底放入有H2S氣氛的高溫管式爐中,硫化退火溫度為500℃,保持120min。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的制備Ag2ZnSnS4同質(zhì)結(jié)薄膜電池的方法,其特征在于,在所述的AZTS半導(dǎo)體薄膜上濺射形成本征ZnO層包括:采用磁控濺射單靶沉積方法將具有Mo電極的AZTS半導(dǎo)體薄膜放入磁控濺射腔體,加熱至80℃,以99.999%濃度的氬氣作為工作氣體,工作壓強(qiáng)為0.7Pa,功率為60W,濺射25分鐘形成ZnO層。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的制備Ag2ZnSnS4同質(zhì)結(jié)薄膜電池的方法,其特征在于,所述在所述本征ZnO層上濺射形成ITO層包括:采用磁控濺射單靶沉積方法將具有本征ZnO層的SLG襯底加熱至200℃,工作氣體為99.999%濃度的氬氣,反應(yīng)氣體為99.999%濃度的氧氣,所述氬氣與氧氣流量比為100:1,工作壓強(qiáng)為0.7Pa,功率為80W,濺射45min,形成ITO層。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的制備Ag2ZnSnS4同質(zhì)結(jié)薄膜電池的方法,其特征在于,所述在ITO層上蒸發(fā)制備銀電極層包括:將具有所述ITO層的SLG襯底放入高真空蒸發(fā)腔室,蒸發(fā)制備銀電極層。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對(duì)紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進(jìn)行電能控制的半導(dǎo)體器件;專門適用于制造或處理這些半導(dǎo)體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導(dǎo)體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉(zhuǎn)換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個(gè)共用襯底內(nèi)或其上形成的,一個(gè)或多個(gè)電光源,如場致發(fā)光光源在結(jié)構(gòu)上相連的,并與其電光源在電氣上或光學(xué)上相耦合的
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