[發明專利]一種多光譜校準裝置有效
| 申請號: | 201611041345.7 | 申請日: | 2016-11-24 |
| 公開(公告)號: | CN106767553B | 公開(公告)日: | 2019-04-26 |
| 發明(設計)人: | 齊寬寬 | 申請(專利權)人: | 上海暄泓科學儀器有限公司 |
| 主分類號: | G01B11/27 | 分類號: | G01B11/27;G02B7/182 |
| 代理公司: | 上海宏京知識產權代理事務所(普通合伙) 31297 | 代理人: | 鄧文武 |
| 地址: | 201112 上海市閔*** | 國省代碼: | 上海;31 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 彈簧 支架 反射裝置 橫桿 電缸 前窗 底板 校準裝置 支撐裝置 多光譜 固定桿 固定塊 旋轉板 支撐桿 殼體 封閉裝置 彈性桿 定位板 定位桿 定位架 反射鏡 固定板 輸出軸 推動桿 握持環 拉線 支撐 電機 | ||
1.一種多光譜校準裝置,其特征在于:所述多光譜校準裝置包括底板、位于所述底板上方的旋轉板、位于所述旋轉板上方的支撐裝置、位于所述支撐裝置右側的電缸裝置、位于所述電缸裝置上方的殼體、收容于所述殼體內的前窗裝置、位于所述前窗裝置右側的第一反射裝置、位于所述第一反射裝置右側的第二反射裝置、位于所述第二反射裝置右側的封閉裝置,所述底板上設有位于其上表面的第一凹槽、位于其上方的第一定位板、位于所述第一定位板上方左右兩側的第一彈簧,所述旋轉板上設有位于其下方的第一支撐塊、位于所述第一支撐塊下方的第二支撐塊、位于其右側的第一支架、位于所述第一支架右側的第一握持環,所述支撐裝置包括第一支撐桿、位于所述第一支撐桿左側的第二支架、位于所述第二支架下方的第二彈簧、位于所述第一支撐桿右側的第一橫桿、位于所述第一橫桿右側的第三支架、位于所述第一橫桿上方的第三彈簧,所述電缸裝置包括電缸、位于所述電缸右側的第四支架、設置于所述第四支架上的第一固定桿、設置于所述第四支架上的第二橫桿、位于所述第二橫桿左側的第二支撐桿、位于所述第二支撐桿左側的第三橫桿、位于所述第三橫桿左側的定位桿、位于所述電缸左側的推動桿、位于所述推動桿左側的彈性桿,所述殼體上設有位于其下方的第一固定塊、位于所述第一固定塊右側的第二固定塊、位于所述第二固定塊右側的第四彈簧,所述前窗裝置包括前窗、設置于所述前窗上的固定板、位于所述固定板左側的電機、設置于所述電機上的輸出軸、位于所述固定板右側的定位架及拉線,所述第一反射裝置包括第一反射鏡、位于所述第一反射鏡左側的第二固定桿、位于所述第二固定桿左側的第六彈簧、移動桿、位于所述移動桿上下兩側的第三固定塊、位于所述第三固定塊左側的第七彈簧、位于所述移動桿左側的固定環,所述第二反射裝置包括第二反射鏡、位于所述第二反射鏡右方上下兩側的第四固定塊、卡扣架、位于所述卡扣架之間的管道、收容于所述管道內的后窗、位于所述管道右側的擋板,所述封閉裝置包括封閉板、位于所述封閉板右側的握持桿及第三反射鏡。
2.如權利要求1所述的多光譜校準裝置,其特征在于:所述第一定位板呈長方體且水平放置,所述第一定位板的下表面與所述底板的上表面固定連接,所述第一彈簧設有兩個,所述第一彈簧的下端與所述第一定位板固定連接。
3.如權利要求2所述的多光譜校準裝置,其特征在于:所述第一彈簧的上端與所述旋轉板固定連接,所示第一支撐塊呈圓臺狀,所述第一支撐塊的上表面與所述旋轉板的下表面固定連接,所述第一支撐塊貫穿所述第一定位板的上下表面且與其滑動連接,所述第一支撐塊的下表面與所述第二支撐塊的上表面固定連接,所述第二支撐塊呈圓柱體,所述第二支撐塊收容于所述第一凹槽內且與所述底板滑動連接,所述第一支架呈L型,所述第一支架的下端與所述旋轉板的右表面固定連接,所述第一支架的上端呈豎直狀,所述第一握持環呈半圓環狀,所述第一握持環的兩端與所述第一支架的右表面固定連接。
4.如權利要求3所述的多光譜校準裝置,其特征在于:所述第一支撐桿呈長方體且豎直放置,所述第一支撐桿的下端與所述旋轉板的上表面固定連接,所述第一支撐桿的上端設有第二凹槽,所述第二支架呈L型,所述第二支架的下端與所述第一支撐桿的左表面固定連接,所述第二支架的上端呈豎直狀,所述第二彈簧呈豎直狀,所述第二彈簧的下端與所述旋轉板固定連接,所述第二彈簧的上端與所述第二支架固定連接,所述第一橫桿呈長方體且水平放置,所述第一橫桿的左端與所述第一支撐桿的右表面固定連接,所述第一橫桿的右端與所述第三支架固定連接,所述第三支架呈L型,所述第三支架的下端與所述旋轉板的上表面固定連接,所述第三支架的上端呈水平狀,所述第三彈簧呈水平狀,所述第三彈簧的左端與所述第一支撐桿固定連接。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于上海暄泓科學儀器有限公司,未經上海暄泓科學儀器有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201611041345.7/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





