[發明專利]芯片內部動作時間的檢測系統及方法

有效

• 申請號: 201611040490.3
• 申請日: 2016-11-22
• 公開（公告）號: CN106774636B
• 公開（公告）日: 2020-03-31
• 發明（設計）人: 席與凌;李強
• 申請（專利權）人: 上海華力微電子有限公司
• 主分類號: G06F1/14
• 分類號: G06F1/14
• 代理公司: 上海天辰知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 31275
• 代理人: 吳世華;陳慧弘

1.一種芯片內部動作時間的檢測系統，芯片具有狀態輸出管，其特征在于，包括：檢測設備、外部時鐘、計算單元和定義單元；檢測設備具有失效地址存儲單元，用于對虛擬地址進行計數；其中，

芯片的狀態輸出管與失效地址存儲單元的控制端相連；外部時鐘與失效地址存儲單元的輸入端相連；

計算單元，估算要測量的動作時間，據此定義時鐘信號的周期；其中，估算要測量的動作時間為t1，則設置時鐘信號的周期為t2，t1為t2的200～300倍；

定義單元，在失效地址存儲單元中為每個時鐘信號定義不同的虛擬地址；

檢測設備，檢測時，將虛擬地址存儲于失效地址存儲單元中；然后計算單元還統計存儲于失效地址存儲單元中的虛擬地址數目，其中，時鐘源恒定，寄存器值為“0”時，失效地址存儲單元開始計數，寄存器的值為“1”時，外部時鐘停止計數；芯片內部動作時，狀態輸出管的狀態為低，開啟失效地址存儲單元的計時功能；芯片處于空閑狀態時，狀態輸出管的狀態為高，關閉計時功能；失效地址存儲單元中，定義“0”為芯片內部正在工作，“1”為芯片沒有工作；將失效地址存儲單元01中的位值與“1”比較，比較結果不相同，相應的位值所在地址被記錄下來；所記錄的虛擬地址數目為狀態輸出管的狀態為低時的時鐘信號數量；統計得到的虛擬地址數目為N；時鐘信號的周期乘以虛擬地址數目得到所述芯片內部動作時間。

2.根據權利要求1所述的系統，其特征在于，所述狀態輸出管為引腳或寄存器。

3.一種芯片內部動作時間的檢測方法，所述芯片具有狀態輸出管，所采用的檢測設備具有失效地址存儲單元，還采用了外部時鐘，其特征在于，采用失效地址存儲單元來進行計數，具體包括：

步驟01：將芯片的狀態輸出管與失效地址存儲單元的控制端相連；將外部時鐘與失效地址存儲單元的輸入端相連；所述狀態輸出管的電壓改變所持續的時間為所要測量的動作時間；

步驟02：估算要測量的動作時間，據此定義時鐘信號的周期；其中，估算要測量的動作時間為t1，則設置時鐘信號的周期為t2，t1為t2的200～300倍；

步驟03：在失效地址存儲單元中為每個時鐘信號定義不同的虛擬地址；

步驟04：開始檢測，將虛擬地址存儲于失效地址存儲單元中，然后統計存儲于失效地址存儲單元中的虛擬地址數目；其中，時鐘源恒定，寄存器值為“0”時，失效地址存儲單元開始計數，寄存器的值為“1”時，外部時鐘停止計數；芯片內部動作時，狀態輸出管的狀態為低，開啟失效地址存儲單元的計時功能；芯片處于空閑狀態時，狀態輸出管的狀態為高，關閉計時功能；失效地址存儲單元中，定義“0”為芯片內部正在工作，“1”為芯片沒有工作；將失效地址存儲單元01中的位值與“1”比較，比較結果不相同，相應的位值所在地址被記錄下來；所記錄的虛擬地址數目為狀態輸出管的狀態為低時的時鐘信號數量；統計得到的虛擬地址數目為N；

步驟05：時鐘信號的周期乘以虛擬地址數目得到所述芯片內部動作時間。

4.根據權利要求3所述的檢測方法，其特征在于，所述狀態輸出管為引腳或寄存器。

5.根據權利要求3所述的檢測方法，其特征在于，所述步驟03中，不同的虛擬地址包括：0×0000，0×0001，0×0002，……，0×EAAA，EAAA為虛擬地址的最大值。