[發明專利]一種獲取瀝青膜厚度的方法

有效

• 申請號: 201611036977.4
• 申請日: 2016-11-23
• 公開（公告）號: CN106767629B
• 公開（公告）日: 2020-06-19
• 發明（設計）人: 蔣應軍;趙淑敏;楊超群;陳瑞亭;王敏
• 申請（專利權）人: 長安大學
• 主分類號: G01B21/08
• 分類號: G01B21/08;G01N33/42
• 代理公司: 北京高沃律師事務所 11569
• 代理人: 王加貴

1.一種獲取瀝青膜厚度的方法，其特征在于，包括以下步驟：

(1)測定瀝青混合集料的瀝青含量和25℃條件下瀝青相對密度；

(2)篩分瀝青混合集料，根據集料的粒徑尺寸，得到若干檔集料和相應檔集料的分計篩余比例；

(3)將所述步驟(2)得到的若干檔集料的比表面積系數與相應檔集料的分計篩余比例相乘后相加求和，得到瀝青混合集料比表面積；

所述若干檔集料包括粗檔集料、超細檔集料和中檔集料；

所述粗檔集料的粒徑不小于2.36mm；

所述超細檔集料的粒徑小于0.15mm；

所述中檔集料的粒徑不小于0.15mm且小于2.36mm；

(4)分別將所述瀝青混合集料比表面積、瀝青混合集料的瀝青含量和25℃條件下瀝青相對密度代入式I所示公式，得到瀝青膜厚度；

式Ⅰ中所述DA為瀝青膜厚度；

所述SA為瀝青混合集料的比表面積；

所述P_b為瀝青混合集料的瀝青含量；

所述γ_b為25℃條件下瀝青相對密度；所述分計篩余比例為所述若干檔集料通過相應粒徑尺寸篩孔的篩上物占相應所述瀝青混合集料的質量百分比；

所述粗檔集料的比表面積系數為固定比表面積系數；

所述超細檔集料的比表面積系數按照包括以下步驟的方法得到：

a、對所述超細檔集料進行篩分，得到一級超細檔集料和二級超細檔集料以及所述一級超細檔集料的分計篩余比例和所述二級超細檔集料的分計篩余比例；

b、采用勃氏比表面積方法對所述一級超細檔集料和所述二級超細檔集料分別進行測試，得到一級超細檔集料比表面系數和二級超細檔集料比表面積系數；

所述一級超細檔集料為粒徑大于0.075mm且小于0.15mm檔集料；

所述二級超細檔集料為粒徑不大于0.075mm檔集料；

所述中檔集料的比表面積系數為采用修改系數對所述中檔集料的比表面積的系數固定值進行修正得到；

所述修正的方法為將所述中檔集料的比表面積的系數固定值與所述修正系數相乘；

所述修正系數為所述一級超細檔集料的比表面積系數與一級超細檔集料比表面積系數的固定值的比值。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述固定比表面積系數按照包括以下步驟的方法得到:

(a)對所述粗檔集料進行篩分，根據集料的粒徑尺寸，得到所述粗檔集料的若干次級檔；

(b)對所述若干次級檔的粗檔集料分別進行稱量，得到所述若干次級檔的粗檔集料的質量；

(c)對所述若干次級檔的粗檔集料分別進行掃描，得到所述若干次級檔的粗檔集料的掃描圖；

(d)根據所述若干次級檔的粗檔集料的掃描圖，得到所述若干次級檔的粗檔集料的表面積；

(e)根據所述若干次級檔的粗檔集料的表面積和所述若干次級檔的粗檔集料的質量，得到所述若干次級檔的粗檔集料的固定比表面積系數；

所述若干次級檔的粗檔集料的固定比表面積系數為所述若干次級檔的粗檔集料的表面積與所述若干次級檔的粗檔集料的質量的比值。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述比表面積系數的固定值為美國系數法規律中的比表面積系數。