[發明專利]平板探測器與濾線柵的適配方法和設備及醫療成像系統

有效

• 申請號: 201611032685.3
• 申請日: 2016-11-14
• 公開（公告）號: CN108065944B
• 公開（公告）日: 2021-10-22
• 發明（設計）人: 李莉
• 申請（專利權）人: 上海西門子醫療器械有限公司
• 主分類號: A61B6/00
• 分類號: A61B6/00;A61B6/06
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種平板探測器與濾線柵的適配方法，用于一平板探測器和濾線柵的組合，該方法包括：

a)采集經曝光的第一圖像；

b)獲取所述平板探測器的基本信息；

c)獲取所述濾線柵的柵線理論頻率f_g；

d)根據所述平板探測器的基本信息確定所述平板探測器的實際采樣頻率f_s，根據所述柵線理論頻率f_g和所述平板探測器的實際采樣頻率f_s計算所述濾線柵導致的所述第一圖像中的柵線偽影的預估頻率f_estimate；

e)以所述柵線偽影的預估頻率f_estimate為中心設定最大允許偏差區間；以及

f)在所述最大允許偏差區間內查找所述柵線偽影所處的實際頻率，并去除所述第一圖像中的所述柵線偽影，得到第二圖像；

其中，在步驟b)中所獲取的所述平板探測器的基本信息包括：平板探測器的尺寸、像素值、像素形狀。

2.如權利要求1所述的平板探測器與濾線柵的適配方法，還包括：

g)判斷所述第二圖像是否達到預設的偽影去除標準，若所述第二圖像達到預設的偽影去除標準，則輸出所述第二圖像。

3.如權利要求2所述的平板探測器與濾線柵的適配方法，還包括：

若所述第二圖像未達到預設的偽影去除標準，則再次進行步驟b)-步驟g)。

4.如權利要求3所述的平板探測器與濾線柵的適配方法，其中若所述第二圖像未達到預設的偽影去除標準累積到預定次數，則進行報錯。

5.如權利要求1所述的平板探測器與濾線柵的適配方法，其中在步驟d)中根據所述像素值計算所述平板探測器的實際采樣頻率f_s。

6.如權利要求1所述的平板探測器與濾線柵的適配方法，其中在步驟d)中還包括通過如下方式計算所述柵線偽影的預估頻率f_estimate：

判斷所述平板探測器的實際采樣頻率f_s是否滿足奈奎斯特采樣率，使得f_s≥2f_g，如果是，則確定所述柵線偽影的預估頻率f_estimate＝f_g；否則，根據如下表達式確定所述柵線偽影的預估頻率：

其中，k₁和k₂為整數，且k₁、k₂分別滿足下列不等式：

7.如權利要求2或3所述的平板探測器與濾線柵的適配方法，其中在步驟g)中通過人工或自動的方式基于所述第一圖像和所述第二圖像的一維傅里葉能譜圖判斷所述第二圖像是否達到預設的偽影去除標準。

8.一種平板探測器與濾線柵的適配設備，用于一平板探測器和濾線柵的組合，該適配設備包括：

采集裝置，用于采集經曝光的第一圖像；

獲取裝置，用于獲取所述平板探測器的基本信息以及獲取所述濾線柵的柵線理論頻率f_g；

計算裝置，用于根據所述平板探測器的基本信息確定所述平板探測器的實際采樣頻率f_s，并根據所述柵線理論頻率f_g和所述平板探測器的實際采樣頻率f_s計算所述濾線柵導致的所述第一圖像中的柵線偽影的預估頻率f_estimate；

設定裝置，用于以所述柵線偽影的預估頻率f_estimate為中心設定最大允許偏差區間；以及

偽影去除裝置，用于在所述最大允許偏差區間內查找所述柵線偽影所處的實際頻率，并去除所述第一圖像中的所述柵線偽影，得到第二圖像；

其中，所獲取的所述平板探測器的基本信息包括：平板探測器的尺寸、像素值、像素形狀。