[發明專利]一種基于光脈動的顆粒粒徑檢測裝置

有效

• 申請號: 201611030755.1
• 申請日: 2016-11-16
• 公開（公告）號: CN106568693B
• 公開（公告）日: 2020-06-26
• 發明（設計）人: 魏利平;易浩然;顧家華;劉文超;郭嘉成
• 申請（專利權）人: 西北大學
• 主分類號: G01N15/02
• 分類號: G01N15/02
• 代理公司: 西安中科匯知識產權代理有限公司 61254
• 代理人: 韓冰

1.一種基于光脈動的顆粒粒徑檢測裝置，其特征在于，包括流場發生器、檢測裝置和放大電路，所述流場發生器為開有固定孔徑圓孔的倒置圓錐形儀器，所述檢測裝置包括光源和光接收元件，光源和光接收元件固定在滑塊上，滑塊安裝在導軌架頂部的滑槽中，所述滑槽為燕尾槽，所述燕尾槽方向為與導軌架的運動方向垂直，以實現光源與光接收元件在Y軸方向上的運動，導軌架安裝在導軌上，以實現光源與光接收元件在X軸方向上的運動，導軌固定在底座支架上，所述導軌為相互平行的兩根導軌，兩根導軌與底座支架垂直連接，放大電路連接有數據采集卡；所述光源為波長為650mm的半導體激光器；所述光接收元件為硅光電二極管，所述放大電路中的運算放大器為低溫漂型放大器。

2.一種基于光脈動的顆粒粒徑檢測方法，其特征在于，利用如權利要求1所述的一種基于光脈動的顆粒粒徑檢測裝置，包括如下步驟：將待測顆粒置于流場發生器中產生流場，光源發出的光線通過顆粒流場后，其光強會發生變化，并被光接收元件所檢測，再經過放大電路處理，得到直觀的電壓信號，進而得到衰減后的光強，由光脈動法求得入射光強度，再根據衰減前后的光強數據由光脈動法計算出粒徑大小。