[發(fā)明專(zhuān)利]電磁發(fā)射要素檢測(cè)分析系統(tǒng)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201611027604.0 | 申請(qǐng)日: | 2016-11-18 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN106526380B | 公開(kāi)(公告)日: | 2018-03-16 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 蘇東林;武嘉藝;賈云峰;尚曉凡 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 北京航空航天大學(xué) |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01R31/00 | 分類(lèi)號(hào): | G01R31/00 |
| 代理公司: | 暫無(wú)信息 | 代理人: | 暫無(wú)信息 |
| 地址: | 100191*** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 電磁 發(fā)射 要素 檢測(cè) 分析 系統(tǒng) | ||
1.一種電磁發(fā)射要素檢測(cè)分析系統(tǒng),其特征在于包括:測(cè)試天線與探頭、被測(cè)設(shè)備、接收機(jī)設(shè)備與電磁發(fā)射要素分析儀;所述電磁發(fā)射要素檢測(cè)分析儀包括主處理器、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)模塊、數(shù)據(jù)輸入模塊、屏幕顯示模塊、供電模塊;
所述接收機(jī)設(shè)備通過(guò)測(cè)試天線與探頭采集被測(cè)設(shè)備的頻譜數(shù)據(jù);然后數(shù)據(jù)傳輸?shù)剿鲭姶乓胤治鰞x對(duì)頻譜數(shù)據(jù)進(jìn)行系統(tǒng)分析,分析包括,預(yù)處理分析、諧波分析、正弦分析;通過(guò)分析使得設(shè)備的頻譜數(shù)據(jù)完成電磁發(fā)射要素的逐步提取,并生成分析數(shù)據(jù);
所述主處理器將用戶(hù)輸入的指令轉(zhuǎn)化為相應(yīng)的控制語(yǔ)言進(jìn)行分析控制,依據(jù)用戶(hù)的選擇進(jìn)行預(yù)處理分析、諧波分析、正弦分析分析;
所述預(yù)處理分析采用多分辨率分析法,對(duì)接收機(jī)設(shè)備所獲得的頻譜數(shù)據(jù)進(jìn)行整體的認(rèn)知并對(duì)后續(xù)分析有一定的針對(duì)性選擇;
所述諧波分析采用周期分析方法,對(duì)窄帶分量中所有的超標(biāo)點(diǎn)進(jìn)行周期分析,若所述超標(biāo)點(diǎn)為周期信號(hào),則將該超標(biāo)點(diǎn)定為諧波頻點(diǎn),并計(jì)算諧波頻點(diǎn)的基頻,檢驗(yàn)有效性后在界面做出相應(yīng)標(biāo)識(shí)與顯示;
所述正弦分析采用周期性分析方法,對(duì)窄帶分量中所有的超標(biāo)點(diǎn)進(jìn)行周期分析,若所述超標(biāo)點(diǎn)為非周期信號(hào),則將該超標(biāo)點(diǎn)定為正弦頻點(diǎn),讀取并顯示正弦頻點(diǎn)的頻率和幅度,并在界面做出相應(yīng)標(biāo)識(shí)與顯示;
所述數(shù)據(jù)存儲(chǔ)模塊,讀取保存在整個(gè)的CSV文件,同時(shí)把電磁發(fā)射要素分析過(guò)程中的數(shù)據(jù)文件,圖片文件以及分析報(bào)告進(jìn)行存儲(chǔ),為后續(xù)電磁兼容分析與整改提供支撐;
所述數(shù)據(jù)輸入模塊與接收機(jī)設(shè)備前段電磁發(fā)射數(shù)據(jù)測(cè)量?jī)x器連接,實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)的實(shí)時(shí)傳輸,實(shí)時(shí)的利用前端測(cè)試設(shè)備的數(shù)據(jù)進(jìn)行電磁發(fā)射要素分析;
所述屏幕顯示模塊采用可觸摸型屏幕進(jìn)行界面的顯示;電源供電模塊在未連接電源的情況下,為整個(gè)系統(tǒng)穩(wěn)定的輸出12V電壓,保證系統(tǒng)正常工作。
該專(zhuān)利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專(zhuān)利權(quán)人授權(quán)。該專(zhuān)利全部權(quán)利屬于北京航空航天大學(xué),未經(jīng)北京航空航天大學(xué)許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買(mǎi)此專(zhuān)利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201611027604.0/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專(zhuān)利網(wǎng)。
- 同類(lèi)專(zhuān)利
- 專(zhuān)利分類(lèi)
G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
- 點(diǎn)焊接部的解析方法、點(diǎn)焊接部的解析程序、記錄介質(zhì)及點(diǎn)焊接部的解析裝置
- 一種電子地圖中的線要素合并方法及裝置
- 一種站場(chǎng)完整性管理數(shù)據(jù)模型建立方法及系統(tǒng)
- 生產(chǎn)系統(tǒng)模擬裝置以及生產(chǎn)系統(tǒng)模擬方法
- 體系構(gòu)建方法和裝置
- 轉(zhuǎn)運(yùn)珠套件(玖運(yùn)—K金心想事成—星座)
- 轉(zhuǎn)運(yùn)珠套件(時(shí)至運(yùn)來(lái)—五行生肖之生肖)
- 一種警情要素提取系統(tǒng)及其提取方法
- 數(shù)據(jù)校驗(yàn)方法、裝置和電子設(shè)備
- 一種要素內(nèi)容獲取方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法及檢測(cè)程序
- 檢測(cè)電路、檢測(cè)裝置及檢測(cè)系統(tǒng)





