[發明專利]發射機ALC設計通用試驗平臺及試驗方法

有效

• 申請號: 201611023970.9
• 申請日: 2016-11-14
• 公開（公告）號: CN106603168B
• 公開（公告）日: 2020-09-22
• 發明（設計）人: 孫正健
• 申請（專利權）人: 南京熊貓電子股份有限公司;南京熊貓通信科技有限公司
• 主分類號: H04B17/15
• 分類號: H04B17/15
• 代理公司: 南京瑞弘專利商標事務所(普通合伙) 32249
• 代理人: 張耀文

1.一種利用發射機ALC設計通用試驗平臺實現確定最佳ALC環路控制方式的試驗方法，其特征在于：所述發射機ALC設計通用試驗平臺包括前級耦合器、射頻開關、數控衰減器、模擬衰減器、驅動放大器、末級功率放大器、后級功率耦合器、低通濾波器、前級芯片檢波器、后級芯片檢波器、環路控制電路、模擬單刀雙擲開關、MCU微處理器、I2C存儲器；

所述前級耦合器的輸入端口連接前級輸入信號，輸出端口連接射頻開關的輸入端口，射頻開關的輸出端口連接數控衰減器的輸入端口，數控衰減器的輸出端口連接模擬衰減器的輸入端口，模擬衰減器的輸出端口連接驅動放大器的輸入端口，驅動放大器的輸出端口連接末級功率放大器的輸入端口，末級功率放大器的輸出端口連接后級功率耦合器的輸入端口，后級功率耦合器的輸出端口連接低通濾波器的輸入端口，低通濾波器的輸出端口輸出信號；

所述前級芯片檢波器的輸入端口連接前級耦合器的耦合端口，輸出端口連接MCU微處理器AD采樣端口；MCU微處理器的SPI接口連接至數控衰減器，I2C存儲器與MCU微處理器通過I2C總線互連；

所述后級芯片檢波器的輸入端口連接后級功率耦合器的耦合端口，輸出端口連接環路控制電路的輸入端口，環路控制電路的輸出端口通過模擬單刀雙擲開關連接至模擬衰減器控制端，MCU微處理器的DA輸出端口也通過模擬單刀雙擲開關連接到模擬衰減器控制端，同時環路控制電路連接MCU微處理器的AD采樣端口；

所述ALC環路控制方式的試驗方法通過斷開發射機ALC設計通用試驗平臺不需要的器件，能夠衍生出以下三種典型的ALC控制電路：

第一種，預存儲式數字ALC控制電路，具體如下：斷開模擬衰減器、環路控制電路、模擬單刀雙擲開關三部分，將數控衰減器的輸出端口連接驅動放大器的輸入端口，MCU微處理器的DA輸出端口空連接，后級芯片檢波器的輸出端口連接MCU微處理器的AD采樣端口，環路完全由數字環實現，從而實現預存儲式數字ALC控制方式；

第二種，模擬閉環調制式ALC控制電路，具體如下：斷開前級耦合器、射頻開關、數控衰減器、前級芯片檢波器、MCU微處理器、I2C存儲器，將前級輸入信號連接至模擬衰減器的輸入端口，環路完全由模擬環實現，從而實現模擬閉環調制式ALC控制方式；

第三種，模擬數字組合式ALC控制電路，具體如下：斷開前級耦合器、射頻開關、前級芯片檢波器，將前級輸入信號連接至數控衰減器，并將環路控制電路輸出端口和MCU微處理器DA輸出端口通過模擬單刀雙擲開關連接至模擬衰減器控制端口，從而實現模擬數字組合式ALC控制方式；

通過比較三種控制方式下的控制效果，選擇最佳發射機ALC環路控制方式。

2.根據權利要求1所述的確定最佳ALC環路控制方式的試驗方法，其特征在于：第三種模擬數字組合式ALC控制電路中，對于高速高階非恒包絡調制信號，開始預校準功率時由模擬環路控制，最終工作時完全由數字開環控制；具體控制步驟如下：

(1)根據工作狀態工作頻率，查詢數控衰減器當前值，并置衰減量；

(2)如果未查詢到當前衰減量，將數控衰減量置于零衰減，并將環路控制電路輸出切換到模擬衰減器位置；

(3)打開輸入驅動；

(4)逐漸增加數控衰減量，釋放模擬衰減器，最終用數控衰減器代替模擬衰減器；

(5)當輸出功率接近功率基準值時，模擬環路斷開，模擬衰減器衰減量由DA輸出直接設為不衰減；

(6)存儲當前數控衰減量便于以后直接調用。

3.根據權利要求1所述的確定最佳ALC環路控制方式的試驗方法，其特征在于：第三種模擬數字組合式ALC控制電路中，對于模擬調制信號、恒包絡數字調制信號，由模擬衰減器起主導控制作用，數字衰減器起輔助作用；具體控制步驟如下：

(1)根據工作狀態工作頻率，查詢數控衰減器當前值，并置衰減量；

(2)如果未查詢到當前衰減量，將數控衰減量置于中間位置，并將環路控制電路輸出切換到模擬衰減器位置，打開輸入驅動；

(3)檢測環路控制電路的電平值，保證模擬衰減器工作在最佳線性條件下，調整數控衰減值；

(4)記錄存儲當前工作模式、工作頻率下的數控衰減值，以便正常工作時直接調用。