[發明專利]一種提取特征描述符的方法及電子設備

在審

• 申請號: 201611020427.3
• 申請日: 2016-11-14
• 公開（公告）號: CN106845492A
• 公開（公告）日: 2017-06-13
• 發明（設計）人: 龐富民
• 申請（專利權）人: 納恩博（北京）科技有限公司
• 主分類號: G06K9/46
• 分類號: G06K9/46
• 代理公司: 北京華沛德權律師事務所11302
• 代理人: 房德權

1.一種提取特征描述符的方法，應用于電子設備中，所述電子設備具有圖像采集單元，其特征在于，所述提取特征描述符的方法包括：

為所述圖像采集單元建立第一坐標系；

從所述圖像采集單元采集到的圖像中提取特征點；

測量所述第一坐標系相對于重力方向的夾角；

基于所述夾角旋轉所述特征點；

提取旋轉后的所述特征點的特征描述符。

2.如權利要求1所述的提取特征描述符的方法，其特征在于，所述為所述圖像采集單元建立第一坐標系，包括：

將所述圖像采集單元的光軸的朝向確定為所述第一坐標系的Z軸；

將所述圖像采集單元的正下方的方向確定為所述第一坐標系的Y軸；

將所述圖像采集單元的向左或向右的方向確定為所述第一坐標系的X軸；其中，所述第一坐標系的X軸、Y軸、Z軸兩兩正交。

3.如權利要求1所述的提取特征描述符的方法，其特征在于，所述從所述圖像采集單元采集到的圖像中提取特征點，包括：

從所述圖像中提取第一像素點，所述第一像素點為所述圖像中灰度值滿足一預設條件的像素點；

獲取所述第一像素點的灰度值，以及獲取所述第一像素點周圍的M個像素點的灰度值，M為大于等于2的整數；

若所述M個像素點中存在預設比例的特定像素點，則將所述第一像素點確定為所述特征點，其中，所述特定像素點的灰度值與所述第一像素點的灰度值的差值的絕對值大于一預設值。

4.如權利要求1所述的提取特征描述符的方法，其特征在于，所述測量所述第一坐標系相對于重力方向的夾角，包括：

通過慣性測量單元IMU測量出所述第一坐標系相對于全局坐標系的旋轉角度，其中，所述全局坐標系的Z軸與重力的方向相反，所述全局坐標系的X軸、Y軸和Z軸兩兩正交；

基于所述旋轉角度，確定重力向量投影到所述第一坐標系的第一平面內的投影向量，所述第一平面為所述第一坐標系的X軸和Y軸所表示的平面；

計算所述第一坐標系的Y軸相對于所述投影向量的夾角。

5.如權利要求3所述的提取特征描述符的方法，其特征在于，所述基于所述夾角旋轉所述特征點，包括：

將所述特征點所在的圖像塊旋轉所述夾角對應的角度，其中，所述圖像塊由所述M個像素點圍合而成。

6.如權利要求1～5任一所述的提取特征描述符的方法，其特征在于，所述提取旋轉后的所述特征點的特征描述符，包括：

利用預設特征描述子提取旋轉后的所述特征點的特征描述符，其中，所述預設特征描述子不具有旋轉不變性。

7.一種電子設備，所述電子設備具有圖像采集單元，其特征在于，所述電子設備，還包括：

建立單元，用于為所述圖像采集單元建立第一坐標系；

第一提取單元，用于從所述圖像采集單元采集到的圖像中提取特征點；

測量單元，用于測量所述第一坐標系相對于重力方向的夾角；

旋轉單元，用于基于所述夾角旋轉所述特征點；

第二提取單元，用于提取旋轉后的所述特征點的特征描述符。

8.如權利要求7所述的電子設備，其特征在于，所述建立單元，包括：

第一確定子單元，用于將所述圖像采集單元的光軸的朝向確定為所述第一坐標系的Z軸；

第二確定子單元，用于將所述圖像采集單元的正下方的方向確定為所述第一坐標系的Y軸；

第三確定子單元，用于將所述圖像采集單元的向左或向右的方向確定為所述第一坐標系的X軸；其中，所述第一坐標系的X軸、Y軸、Z軸兩兩正交。

9.如權利要求7所述的電子設備，其特征在于，所述第一提取單元，包括：

提取子單元，用于從所述圖像中提取第一像素點，所述第一像素點為所述圖像中灰度值滿足一預設條件的像素點；

獲取子單元，用于獲取所述第一像素點的灰度值，以及獲取所述第一像素點周圍的M個像素點的灰度值，M為大于等于2的整數；

第四確定子單元，用于若所述M個像素點中存在預設比例的特定像素點，則將所述第一像素點確定為所述特征點，其中，所述特定像素點的灰度值與所述第一像素點的灰度值的差值的絕對值大于一預設值。