[發明專利]一種能夠消除自校正超聲波測厚系統干擾雜波的技術

在審

• 申請號: 201611016091.3
• 申請日: 2016-11-18
• 公開（公告）號: CN108072339A
• 公開（公告）日: 2018-05-25
• 發明（設計）人: 甘芳吉;王少純;廖俊必
• 申請（專利權）人: 四川大學
• 主分類號: G01B17/02
• 分類號: G01B17/02
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種能夠有效消除自校正超聲波測厚技術干擾雜波的技術，其特征在于：自校正超聲波測厚技術在被測件和超聲波壓電片之間引入了一個校正塊，由于超聲波探頭激發的超聲波波束中，有一部分超聲波是垂直透射進入校正塊的，但是有一部分超聲波的傳播方向與垂直方向有一定的夾角，這部分超聲波會在校正塊的側表面和底表面發生多次鏡面反射，并最終被超聲波探頭所接收；這部分雜波信號的強度與被測件反射回來的信號幅值相當，會對信號的判別造成很大的不利影響；為了消除這部分干擾雜波，對校正塊進行了特殊處理，具體步驟如下：

(1)將校正塊加工成圓柱形；

(2)在校正塊圓柱表面沿軸向加工螺紋，使螺紋覆蓋完整個圓柱表面；

(3)螺紋的螺距根據超聲波的波長進行加工，螺距必須小于超聲波的波長，這樣按一定傾斜角進入校正塊的超聲波就會在圓柱表面上發生漫反射；如果校正塊的圓柱壁上沒有螺紋，或者螺紋的螺距大于超聲波的波長，則超聲波會在圓柱壁上發生鏡面反射；由于漫反射的反射角是非常隨機的，因此該部分超聲波就被隨機地分散開來，最終反射到超聲波探頭的雜波信號就大幅度減小，而且在時域上也分散了，也即是雜波信號不是同一時間被超聲波探頭所接收到，雜波信號的幅值也明顯低于被測件反射信號的幅值，系統就能準確地識別出有用信號和干擾信號；

(4)加工的螺紋對牙型沒有特殊要求，三角形、梯形、鋸齒型等都能夠起到消除雜波的功能。

2.根據權利要求點1，校正塊也可加工成立方體，只是相對于圓柱形的校正塊，立方體式的校正塊在加工螺紋上顯得不夠方便。