[發明專利]長波線陣紅外相機星上非均勻性實時校正方法有效
| 申請號: | 201611014807.6 | 申請日: | 2016-11-15 |
| 公開(公告)號: | CN106855435B | 公開(公告)日: | 2019-04-09 |
| 發明(設計)人: | 張守榮;孫曉敏;張曄;雷超;李亮;雷寧;于志成;張斐然;胡雨婷;董書莉;王艷;柴鳳萍;董婷 | 申請(專利權)人: | 北京空間機電研究所 |
| 主分類號: | G01J5/00 | 分類號: | G01J5/00 |
| 代理公司: | 中國航天科技專利中心 11009 | 代理人: | 陳鵬 |
| 地址: | 100076 北京市豐*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 長波 紅外 相機 星上非 均勻 實時 校正 方法 | ||
1.長波線陣紅外相機星上非均勻性實時校正方法,其特征在于包括如下步驟:
(1)當進行低溫定標時,控制低溫黑體運動直到紅外相機與低溫黑體的中央區域對準,使黑體輻射光線充滿并均勻照射在紅外相機視場,在進行低溫定標后產生P行圖像數據時,將P+1行開始的M行圖像數據存儲,并計算M行圖像數據中每個像元的灰度值均值進而得到所有像元的灰度值均值P為正數,M為正數,j為像元的列號,為低溫光強;
(2)當進行高溫定標時,控制高溫黑體運動直到紅外相機與高溫黑體的中央區域對準,使黑體輻射光線充滿并均勻照射在紅外相機視場,在進行高溫定標后產生P行圖像數據時,將P+1行開始的M行圖像數據存儲,并計算M行圖像數據中每個像元的灰度值均值進而得到所有像元的灰度值均值為高溫光強;
(3)分別計算高溫定標后產生圖像中第i行第j個像元、低溫定標后產生圖像第i行第j個像元的灰度值均值的差值遍歷所有像元,進而得到各行所有像元灰度值均值差值的平均值利用判斷盲元點,存儲得到的盲元點坐標,i=1,2,3...M;
(4)分別用行均值替代低溫定標后產生圖像、高溫定標后產生圖像里的盲元點,進而得到盲元點被替代后的新低溫、新高溫圖像中各行各個像元的灰度值均值,并記為計算新低溫圖像所有像元的灰度值均值新高溫圖像所有像元的灰度值均值所述的行均值為被替代盲元點所在行中所有像元灰度值的均值;
(5)計算第i行第j個像元的校正系數Gj、Oj為
其中,為高溫定標后產生圖像中第i行第j個像元的灰度值均值,為低溫定標后產生圖像中第i行第j個像元的灰度值均值;
遍歷所有行、列的所有像元,得到各個像元的校正系數;
(6)使用步驟(5)得到的校正系數對紅外相機輸出的原始圖像進行校正。
2.根據權利要求1所述的長波線陣紅外相機星上非均勻性實時校正方法,其特征在于:所述的步驟(1)中步驟(2)中的計算方法為
其中,為進行低溫定標得到M行圖像數據中第i行、第j列像元的灰度值,i=1,2,3,...,M,j為正整數;
其中,為進行高溫定標得到M行圖像數據中第i行、第j列像元的灰度值,i=1,2,3,...,M,j為正整數。
3.根據權利要求1所述的長波線陣紅外相機星上非均勻性實時校正方法,其特征在于:所述的步驟(1)中的計算方法為
其中,i的初值為P+1,j為低溫定標得到M行圖像數據中像元列號,N為低溫定標得到M行圖像數據中像元列數,1<=i<=M,1<=j<=N,V′(i-1,j)為計算低溫定標得到M行圖像數據中前i-1行,第j列像元灰度值均值,V(i,j)為低溫定標得到M行圖像數據中第i行,第j列像元灰度值原始值,V′(i,j)為計算低溫定標得到的M行圖像數據中前i行,第j列像元灰度值均值;
i=i+1,直至i=M得到V′(M,j)作為
所述步驟(2)中的計算方法為
其中,i的初值為P+1,V′(P,j)=V(P,j),j為高溫定標得到M行圖像數據中像元列號,N為高溫定標得到M行圖像數據中像元列數,1<=i<=M,1<=j<=N,V′(i-1,j)為計算高溫定標得到M行圖像數據中前i-1行,第j列像元灰度值均值,V(i,j)為高溫定標得到M行圖像數據中第i行,第j列像元灰度值原始值,V′(i,j)為計算高溫定標得到M行圖像數據中前i行,第j列像元灰度值均值;
i=i+1,直至i=M得到V′(M,j)作為
4.根據權利要求1或2所述的長波線陣紅外相機星上非均勻性實時校正方法,其特征在于:所述的用判斷盲元點的方法是:當小于或者大于則第j個像元為盲元點。
5.根據權利要求1或2所述的長波線陣紅外相機星上非均勻性實時校正方法,其特征在于:所述的步驟(1)、步驟(2)中M的選取范圍為M>=256。
6.根據權利要求1或2所述的長波線陣紅外相機星上非均勻性實時校正方法,其特征在于:所述的步驟(1)(2)中P的選取范圍為P>=200。
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