[發明專利]一種基于均勻抽樣的二階差分聚類數確定方法在審
| 申請號： | 201611008315.6 | 申請日： | 2016-11-16 |
| 公開（公告）號： | CN106598916A | 公開（公告）日： | 2017-04-26 |
| 發明（設計）人： | 陳艷;易葉青;陳光 | 申請（專利權）人： | 東華大學 |
| 主分類號： | G06F17/18 | 分類號： | G06F17/18;G06K9/62 |
| 代理公司： | 上海泰能知識產權代理事務所31233 | 代理人： | 宋纓,錢文斌 |
| 地址： | 201620 上海市*** | 國省代碼： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 基于 均勻 抽樣 二階差分聚類數 確定 方法 | ||
1.一種基于均勻抽樣的二階差分聚類數確定方法，其特征在于，包括以下步驟：
(1)利用均勻抽樣設計得到具有代表性的樣本子集；
(2)利用二階差分確定聚類數目，對目標函數求二階差分發現二階差分的極大值就是最佳聚類數。
2.根據權利要求1所述的基于均勻抽樣的二階差分聚類數確定方法，其特征在于，所述步驟(1)具體包括以下子步驟：
(11)設置初始門限值A＞0，從大數據集合X中隨機抽取n0個點，記作令n＝n0，得到點集An的中心化L2偏差CL2為CL2(An)2；
(12)在大數據集合X中讀取下一輪數據為y＝{y1,…,yi}，將y當作xn+1，得到CL2(An+1)2；
(13)得到α＝CL2(An+1)2-CL2(An)2，當α＜A，則y被選中，將An+1放入大數據集合X中，否則舍棄，令n＝n+1，再返回步驟(12)；當大數據集合X中的點被讀取完，抽樣結束，最終n為抽樣總數。
3.根據權利要求1所述的基于均勻抽樣的二階差分聚類數確定方法，其特征在于，所述步驟(2)具體包括以下子步驟：
(21)設定目標函數為
(22)對目標函數進行一階差分后，再進行二階差分得到二階差分極大值所對應的點就是最佳聚類數；其中，λ1和λ2分別為類內和類間所占的不同權值，SW為類內散度矩陣，c為聚類數目，SB為類間散度矩陣，X為大數據集合，c為聚類數目，Z＝[z1,…,zc]表示聚類中心，1＜c＜n，代表第i類與第k類的類間距離的權重，利用步驟(1)中得到的樣本子集來代替大數據集合X。
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