[發(fā)明專利]一種單絲單縫衍射實驗儀

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201611004443.3
• 申請日: 2016-11-11
• 公開（公告）號: CN108074459A
• 公開（公告）日: 2018-05-25
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 付晉
• 申請（專利權(quán)）人: 天津良益科技有限公司
• 主分類號: G09B23/22
• 分類號: G09B23/22
• 代理公司: 天津市新天方有限責任專利代理事務(wù)所 12104
• 代理人: 李桂英

1.一種單絲單縫衍射實驗儀，其特征在于：包括基準導軌、滑座、第一橫向移動測量架、第二橫向移動測量架、第三橫向移動測量架、激光器架、可調(diào)夾縫、光電流放大器、白屏、半導體激光器、控制箱，所述基準導軌上設(shè)有滑座，所述滑座上設(shè)有第一橫向移動測量架、第二橫向移動測量架、第三橫向移動測量架、激光器架，所述其中第一橫向移動測量架的上方卡接有白屏，所述第二橫向移動測量架的上方固定連接有光電流放大器，所述第三橫向移動測量架的上方連接有可調(diào)狹縫，所述激光器架上卡接有半導體激光器，所述基準導軌的一側(cè)連接有控制箱，所述半導體激光器與控制箱電連接。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種單絲單縫衍射實驗儀，其特征在于：所述滑座與第一橫向移動測量架、第二橫向移動測量架、第三橫向移動測量架、激光器架滑動連接，所述第二橫向移動測量架、第三橫向移動測量架、激光器架可前后移動還可以左右微調(diào)。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種單絲單縫衍射實驗儀，其特征在于：所述基準導軌、滑座、第一橫向移動測量架、第二橫向移動測量架、第三橫向移動測量架、激光器架的材質(zhì)均為表面經(jīng)陽極氧化處理的鋁合金材料。