[發(fā)明專利]一種基于顏色識(shí)別的芯片數(shù)量檢測(cè)方法及系統(tǒng)

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201610998370.8
• 申請(qǐng)日: 2016-11-11
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN106780428B
• 公開(kāi)（公告）日: 2020-01-14
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 唐佳林;陳玉云;黃偉特;黃昊楠
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 北京理工大學(xué)珠海學(xué)院
• 主分類號(hào): G06T7/00
• 分類號(hào): G06T7/00;G06T7/11;G06T7/90
• 代理公司: 44205 廣州嘉權(quán)專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司
• 代理人: 胡輝

1.一種基于顏色識(shí)別的芯片數(shù)量檢測(cè)方法，其特征在于：包括以下步驟：

讀取采集的圖像，其中，采集的圖像包含有多組芯片的圖像；

對(duì)讀取的圖像進(jìn)行RGB通道分解處理，得到R通道圖像、G通道圖像和B通道圖像這三幅圖像；

從R通道圖像、G通道圖像和B通道圖像這三幅圖像中選擇一幅圖像作為RGB指定通道的圖像進(jìn)行目標(biāo)顏色提取，得到芯片的目標(biāo)顏色；

根據(jù)芯片的目標(biāo)顏色采用改進(jìn)的循環(huán)分割提取方法進(jìn)行候選目標(biāo)區(qū)域提取處理，得到候選目標(biāo)區(qū)域，所述改進(jìn)的循環(huán)分割提取方法的處理過(guò)程包括但不限于將RGB指定通道的圖像變換到HSV通道的過(guò)程，在HSV通道內(nèi)初步提取出候選目標(biāo)區(qū)域過(guò)程，對(duì)初步提取出的候選目標(biāo)區(qū)域進(jìn)行剪切處理過(guò)程，判斷剪切后的候選目標(biāo)區(qū)域是否滿足芯片的目標(biāo)顏色區(qū)域要求過(guò)程，將剪切后的候選目標(biāo)區(qū)域由HSV通道變換回RGB通道進(jìn)行進(jìn)一步分解處理過(guò)程；

采用形態(tài)學(xué)運(yùn)算和連通性分析對(duì)候選目標(biāo)區(qū)域進(jìn)行處理，得到芯片的目標(biāo)區(qū)域；

統(tǒng)計(jì)芯片的目標(biāo)區(qū)域的總數(shù)量，并以統(tǒng)計(jì)的總數(shù)量作為芯片的總數(shù)量進(jìn)行輸出；

所述根據(jù)芯片的目標(biāo)顏色采用改進(jìn)的循環(huán)分割提取方法進(jìn)行候選目標(biāo)區(qū)域提取處理，得到候選目標(biāo)區(qū)域這一步驟，其包括：

S1、將RGB指定通道的圖像由RGB通道變換到HSV通道，得到相應(yīng)的HSV通道圖像；

S2、根據(jù)得到的HSV通道圖像在HSV通道內(nèi)初步提取出候選目標(biāo)區(qū)域；

S3、對(duì)初步提取出的候選目標(biāo)區(qū)域進(jìn)行剪切處理，以減少干擾區(qū)域；

S4、判斷剪切后的候選目標(biāo)區(qū)域是否滿足芯片的目標(biāo)顏色區(qū)域要求，若是，則以剪切后的候選目標(biāo)區(qū)域作為最終的候選目標(biāo)區(qū)域，反之，則將剪切后的候選目標(biāo)區(qū)域由HSV通道變換回RGB通道進(jìn)行進(jìn)一步分解處理；

S5、將進(jìn)一步分解處理后的候選目標(biāo)區(qū)域由RGB通道變換到HSV通道，然后返回步驟S2。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于顏色識(shí)別的芯片數(shù)量檢測(cè)方法，其特征在于：所述芯片的目標(biāo)顏色包括但不限于黑色。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于顏色識(shí)別的芯片數(shù)量檢測(cè)方法，其特征在于：所述步驟S1包括：

將RGB指定通道的圖像由RGB通道變換到HSI通道，得到相應(yīng)的HSI通道圖像，所述RGB通道變換到HSI通道時(shí)采用的公式為：

其中，H、S和I分別為圖像的色調(diào)分量、飽和度分量和強(qiáng)度分量，R、G和B分別為圖像的紅色分量、綠色分量和藍(lán)色分量；

根據(jù)HIS空間與HSV空間的變換關(guān)系將得到的HSI通道圖像轉(zhuǎn)換為HSV通道圖像。

4.根據(jù)權(quán)利要求1-3任一項(xiàng)所述的一種基于顏色識(shí)別的芯片數(shù)量檢測(cè)方法，其特征在于：所述采用形態(tài)學(xué)運(yùn)算和連通性分析對(duì)候選目標(biāo)區(qū)域進(jìn)行處理，得到芯片的目標(biāo)區(qū)域這一步驟，其包括：

對(duì)候選目標(biāo)區(qū)域進(jìn)行腐蝕運(yùn)算，得到腐蝕運(yùn)算后的候選目標(biāo)區(qū)域；

對(duì)腐蝕運(yùn)算后的候選目標(biāo)區(qū)域進(jìn)行膨脹運(yùn)算，得到膨脹運(yùn)算后的候選目標(biāo)區(qū)域；

對(duì)膨脹運(yùn)算后的候選目標(biāo)區(qū)域進(jìn)行連通性分析，得到芯片的目標(biāo)區(qū)域。

5.根據(jù)權(quán)利要求1-3任一項(xiàng)所述的一種基于顏色識(shí)別的芯片數(shù)量檢測(cè)方法，其特征在于：所述芯片數(shù)量檢測(cè)方法還包括在MFC界面上顯示芯片的總數(shù)量的步驟。