[發明專利]校正光學對點棱鏡基座的方法

在審

• 申請號: 201610994681.7
• 申請日: 2016-11-11
• 公開（公告）號: CN108072963A
• 公開（公告）日: 2018-05-25
• 發明（設計）人: 王章朋;童富康
• 申請（專利權）人: 上海寶冶集團有限公司
• 主分類號: G02B7/18
• 分類號: G02B7/18;G01C25/00
• 代理公司: 上海天協和誠知識產權代理事務所 31216
• 代理人: 李彥

1.一種校正光學對點棱鏡基座的方法，其特征是：按如下步驟依次實施：

a. 準備：準備三腳架(1)、全站儀基座(2)、光學對點基座校正器(3)和毫米級的十字分劃板(4)；

b. 設置：將三角架(1)固定在地面上，全站儀基座(2)固定在三角架(1)的上平面上，光學對點基座校正器(3)固定在全站儀基座(2)上，待校正的棱鏡基座(5)固定在光學對點基座校正器(3)上，十字分劃板(4)固定在光學對點基座校正器(3)的正上方；

c. 初調：調節三角架(1)，使三腳架(1)帶動全站儀基座(2)和光學對點基座校正器(3)都處于水平位置，將棱鏡基座(5)上目鏡的十字絲在0°刻度線上和十字分劃板(4)的0°刻度線重合且對準十字分劃板(4)的中心，記下此時0°方向的偏移量為0；

d. 計算：轉動棱鏡基座(5)，轉動后采用天頂讀數法讀出棱鏡基座(5)上目鏡的中心投影在十字分劃板(4)的兩條互相垂直的坐標軸上的坐標值，通過檢定規程的公式(i)計算棱鏡基座(5)上目鏡的中心相對十字分劃板(4)的中心的偏移量：

設a和b分別為棱鏡基座(5)上目鏡的中心在十字分劃板(4)的兩條互相垂直的坐標軸上的坐標值，r為棱鏡基座(5)上目鏡的中心相對十字分劃板(4)的中心的偏移量，則：r=——(i)；

e. 校正：微調棱鏡基座(5)，使r值小于規定的偏差量；

f. 復校：根據步驟d時棱鏡基座(5)的轉動方向和轉動角度，繼續同方向同角度地實施步驟d和步驟e至少兩次，每次步驟e后都使r值小于規定的偏差量，從而完成精確校正棱鏡基座(5)。

2.如權利要求1所述的校正光學對點棱鏡基座的方法，其特征是：

步驟b時，十字分劃板(4)的最小刻度不大于1mm，十字分劃板(4)和光學對點基座校正器(3)之間的距離為1.5m～2.0m；

步驟d時，使棱鏡基座(5)相對初始位置轉動90°，即使步驟f時棱鏡基座(5)相對初始位置依次轉動180°和270°；

步驟e時，偏差量不大于1mm。

3.如權利要求1和2所述的校正光學對點棱鏡基座的方法，其特征是：步驟a時，十字分劃板(4)上設有一個圓心和十字分劃板(4)中心重合的圓形的校正圈(41)，校正圈(41)的半徑等于規定的偏差量；步驟e時，微調棱鏡基座(5)使棱鏡基座(5)上目鏡的中心落在校正圈(41)內。