[發(fā)明專利]非球面元件面形檢測裝置及檢測方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201610991721.2 | 申請日： | 2016-11-10 |
| 公開（公告）號： | CN106441154A | 公開（公告）日： | 2017-02-22 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 張文龍;苗亮;劉鈺 | 申請（專利權(quán)）人： | 中國科學(xué)院長春光學(xué)精密機械與物理研究所 |
| 主分類號： | G01B11/24 | 分類號： | G01B11/24 |
| 代理公司： | 深圳市科進知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙)44316 | 代理人： | 趙勍毅 |
| 地址： | 130033 吉林省長春*** | 國省代碼： | 吉林;22 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 球面 元件 檢測 裝置 方法 | ||
【說明書】：
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