[發(fā)明專利]一種觸摸屏導(dǎo)電膜及測(cè)試方法

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201610991024.7
• 申請(qǐng)日: 2016-11-10
• 公開（公告）號(hào): CN106771413A
• 公開（公告）日: 2017-05-31
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 周小紅;謝文;肖江梅;王濤
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 蘇州維業(yè)達(dá)觸控科技有限公司;蘇州大學(xué)
• 主分類號(hào): G01R1/06
• 分類號(hào): G01R1/06;G01R1/00
• 代理公司: 蘇州華博知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司32232
• 代理人: 彭益波

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及觸摸屏導(dǎo)電膜領(lǐng)域，具體涉及一種觸摸屏導(dǎo)電膜及觸摸屏導(dǎo)電膜的測(cè)試方法。

背景技術(shù)

在導(dǎo)電膜的制作過程中，不同階段都會(huì)進(jìn)行產(chǎn)品的功能測(cè)試，保證良率和降低后續(xù)材料的浪費(fèi)，應(yīng)用于觸摸屏領(lǐng)域的導(dǎo)電膜的測(cè)試通常是測(cè)試每一個(gè)通路的兩端或一端，如果為一端測(cè)試通常是測(cè)試需要綁定柔性電路板的那端，采用的測(cè)試工具多為萬用表或者探針，而且需要接觸式測(cè)試，會(huì)對(duì)產(chǎn)品表面的導(dǎo)電材料造成一定程度的破壞或脫落，測(cè)試之后會(huì)對(duì)導(dǎo)電膜的外觀及穩(wěn)定性造成不良，測(cè)試之后再進(jìn)行綁定柔性電路板會(huì)出現(xiàn)功能不良。

發(fā)明內(nèi)容

為了解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明提供了一種觸摸屏導(dǎo)電膜及觸摸屏導(dǎo)電膜的測(cè)試方法，觸摸屏包括導(dǎo)電膜和測(cè)試引腳，測(cè)試引腳電連接有向外延伸的測(cè)試導(dǎo)線，測(cè)試導(dǎo)線具備導(dǎo)電性能。在設(shè)計(jì)上將需要測(cè)試的一端延伸出來，這樣既保證了電性可以準(zhǔn)確測(cè)試，也避免了綁定位置的破壞，將測(cè)試造成的不良降低為零。

進(jìn)一步的，上述測(cè)試導(dǎo)線的寬度與所述測(cè)試引腳的寬度關(guān)系為：0.5w1＜w2≤w1，其中w1為所述測(cè)試引腳的寬度，w2為所述測(cè)試導(dǎo)線的寬度。

進(jìn)一步的，上述測(cè)試導(dǎo)線為網(wǎng)格結(jié)構(gòu)或?qū)嵭慕Y(jié)構(gòu)。

進(jìn)一步的，上述測(cè)試導(dǎo)線的自由端還連接有測(cè)試塊。

進(jìn)一步的，上述測(cè)試塊為網(wǎng)格結(jié)構(gòu)或?qū)嵭慕Y(jié)構(gòu)。

進(jìn)一步的，上述測(cè)試塊網(wǎng)格線的間距不小于2um且不大于15um。

進(jìn)一步的，上述多個(gè)測(cè)試塊單排排列或多排排列。

本發(fā)明還提供了這種觸摸屏導(dǎo)電膜的測(cè)試方法，其包括以下步驟：

1)從導(dǎo)電膜的測(cè)試引腳開始電連接向外延伸的測(cè)試導(dǎo)線；

2)測(cè)試設(shè)備連接測(cè)試導(dǎo)線進(jìn)行對(duì)導(dǎo)電膜的測(cè)試；

3)完成測(cè)試后分離測(cè)試導(dǎo)線。

進(jìn)一步的，上述測(cè)試導(dǎo)線為網(wǎng)格結(jié)構(gòu)或?qū)嵭慕Y(jié)構(gòu)。

進(jìn)一步的，上述測(cè)試導(dǎo)線的自由端還連接有測(cè)試塊；優(yōu)選的，測(cè)試塊為網(wǎng)格結(jié)構(gòu)或?qū)嵭慕Y(jié)構(gòu)。

本發(fā)明主要具有如下優(yōu)點(diǎn)：

1)避免了制程過程中測(cè)試導(dǎo)致的測(cè)試位置的破壞，進(jìn)一步降低柔性電路板的綁定良率；

2)可以變換測(cè)試位置，將兩頭或多頭的測(cè)試位置引到同一個(gè)地方，測(cè)試結(jié)構(gòu)更加緊湊化，從而測(cè)試治具可以共用，節(jié)省成本；

3)引伸的測(cè)試塊更大，更容易測(cè)試，設(shè)置標(biāo)注，利于作業(yè)不良的查找。

附圖說明

圖1為本發(fā)明中的觸摸屏導(dǎo)電膜的結(jié)構(gòu)示意圖。

圖2為圖1所示觸摸屏導(dǎo)電膜的局部結(jié)構(gòu)放大示意圖。

圖3為本發(fā)明中的測(cè)試導(dǎo)線和測(cè)試塊的一種網(wǎng)格結(jié)構(gòu)示意圖。

圖4為本發(fā)明中的測(cè)試塊的多個(gè)可選位置的示意圖。

圖（5a）、（5b）為本發(fā)明中的測(cè)試塊的另一種排列示意圖。

圖6為本發(fā)明中的測(cè)試塊的結(jié)構(gòu)示意圖。

具體實(shí)施方式

下面結(jié)合附圖詳細(xì)說明本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施方式。

本實(shí)施例主要描述了一種觸摸屏導(dǎo)電膜及觸摸屏導(dǎo)電膜的測(cè)試方法。在導(dǎo)電膜設(shè)計(jì)基礎(chǔ)上增加附屬的設(shè)計(jì)，該設(shè)計(jì)主要是將產(chǎn)品測(cè)試的地方引伸出來，該測(cè)試的地方不影響整個(gè)產(chǎn)品的功能，但是可以替代本身的測(cè)試位置完成電性的測(cè)試；完成測(cè)試功能之后分離，并不影響產(chǎn)品的整體外觀。

如圖1所示，在本實(shí)施例中，一種觸摸屏導(dǎo)電膜，包括導(dǎo)電膜和測(cè)試引腳，測(cè)試引腳電連接有向外延伸的測(cè)試導(dǎo)線，測(cè)試導(dǎo)線具備導(dǎo)電性能，測(cè)試導(dǎo)線為網(wǎng)格結(jié)構(gòu)或?qū)嵭慕Y(jié)構(gòu)，測(cè)試導(dǎo)線的自由端還連接有測(cè)試塊；優(yōu)選的，測(cè)試塊為網(wǎng)格結(jié)構(gòu)或?qū)嵭慕Y(jié)構(gòu)。作為本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施方式，導(dǎo)電膜的測(cè)試引腳、測(cè)試導(dǎo)線、測(cè)試塊一體成型結(jié)構(gòu)。

這種觸摸屏導(dǎo)電膜的測(cè)試方法如下：首先從導(dǎo)電膜的測(cè)試引腳開始電連接向外延伸的測(cè)試導(dǎo)線；其次使用測(cè)試設(shè)備連接測(cè)試導(dǎo)線進(jìn)行對(duì)導(dǎo)電膜的測(cè)試；最后完成測(cè)試后分離測(cè)試導(dǎo)線。

在本發(fā)明的實(shí)施中，延伸測(cè)試模塊101包括測(cè)試導(dǎo)線和測(cè)試塊，以線的方式實(shí)現(xiàn)與導(dǎo)電膜的測(cè)試引腳的連接功能，，可以是直線，曲線，并通過絲網(wǎng)印刷導(dǎo)電油墨或者網(wǎng)格凹槽填充導(dǎo)電材料的方式實(shí)現(xiàn)導(dǎo)電功能。導(dǎo)電材料可以是銀，銅，鎳等。測(cè)試導(dǎo)線的一頭連接導(dǎo)電膜的測(cè)試引腳，測(cè)試導(dǎo)線的另一頭即自由端是測(cè)試塊。測(cè)試完成后，需要將延伸測(cè)試模塊與導(dǎo)電膜的測(cè)試引腳分離，這種分離方式可以為模切、剪切、裁切等，優(yōu)選的采用模切的方式切除；分離后的導(dǎo)電膜的測(cè)試引腳與產(chǎn)品(如導(dǎo)電膜)的輪廓線401平齊，且各根導(dǎo)電膜的測(cè)試引腳長(zhǎng)度相同。

在本發(fā)明的實(shí)施中，，導(dǎo)電膜引腳上可能還有少部分分離后殘余的測(cè)試導(dǎo)線，且測(cè)試導(dǎo)線的存在不影響導(dǎo)電膜的正常的性能。