[發(fā)明專利]一種基于稀疏表示的絕緣子掉串缺陷檢測方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201610989717.2 | 申請日: | 2016-11-10 |
| 公開(公告)號: | CN106778734B | 公開(公告)日: | 2020-04-21 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 崔克彬;袁和金;牛為華 | 申請(專利權(quán))人: | 華北電力大學(xué)(保定) |
| 主分類號: | G06K9/32 | 分類號: | G06K9/32;G06K9/34;G06K9/44;G06K9/46;G06K9/62 |
| 代理公司: | 石家莊開言知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 13127 | 代理人: | 喻慧玲 |
| 地址: | 071003 河*** | 國省代碼: | 河北;13 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 基于 稀疏 表示 絕緣子 缺陷 檢測 方法 | ||
本發(fā)明為一種基于稀疏表示的絕緣子掉串缺陷檢測方法,首先使用圖像分割算法對拍攝到的原始含絕緣子串的圖像進(jìn)行圖像分割,剔除積雪及輸電線等背景干擾,將圖像分割成多個(gè)互不聯(lián)通的區(qū)域;然后,將這些互不聯(lián)通的區(qū)域與絕緣子串庫中的絕緣子進(jìn)行ASIFT匹配,匹配點(diǎn)個(gè)數(shù)高于設(shè)定閾值的即為絕緣子串區(qū)域;接著,將識別出的絕緣子串區(qū)域進(jìn)行絕緣子單盤片分割,得到多個(gè)絕緣子小盤片;最后,利用稀疏表示分類器對每個(gè)絕緣子小盤片進(jìn)行分類標(biāo)識,識別單個(gè)小盤片是否存在掉串缺陷,并在原始圖像中進(jìn)行定位標(biāo)識。相比其他方法具有更高的識別精度、且缺陷定位準(zhǔn)確。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及輸電線路零配件檢測的技術(shù)領(lǐng)域,特別是一種基于稀疏表示的絕緣子掉串缺陷檢測方法。
背景技術(shù)
絕緣子是一種特殊的絕緣控件,能夠在架空輸電線路中起到重要作用。早年間絕緣子多用于電線桿,慢慢發(fā)展于高型高壓電線連接塔的一端掛了很多盤狀的絕緣體,它是為了增加爬電距離的,通常由玻璃或陶瓷制成,就叫絕緣子。絕緣子不應(yīng)該由于環(huán)境和電負(fù)荷條件發(fā)生變化導(dǎo)致的各種機(jī)電應(yīng)力而失效,否則絕緣子就不會(huì)產(chǎn)生重大的作用,如時(shí)有發(fā)生的掉串缺陷,是外觀破損的典型代表,就會(huì)損害整條線路的使用和運(yùn)行壽命。定期進(jìn)行絕緣子缺陷檢測,并根據(jù)檢測結(jié)果及時(shí)對其進(jìn)行更換可有效防止因絕緣子損壞而導(dǎo)致的輸電線路重大事故的發(fā)生,避免巨大的經(jīng)濟(jì)損失。以前對絕緣子進(jìn)行檢測維護(hù)需要大量的人力進(jìn)行沿著輸電線路進(jìn)行檢測,耗費(fèi)大量的時(shí)間和金錢,隨著電子圖像處理的發(fā)展,運(yùn)用圖像處理技術(shù)對絕緣子進(jìn)行分析處理,進(jìn)而實(shí)現(xiàn)自動(dòng)檢測絕緣子缺陷,可有效降低工作人員負(fù)擔(dān),對輸電線路自動(dòng)巡檢具有現(xiàn)實(shí)意義,但已有檢測技術(shù)存在精度低、缺陷定位不準(zhǔn)確的問題。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種不受絕緣子串大小及朝向的影響,具有較高的魯棒性和實(shí)用性,相比其他方法具有更高的識別精度、且缺陷定位準(zhǔn)確的基于稀疏表示的絕緣子掉串缺陷檢測方法。
為了實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明所采取的技術(shù)手段是:
一種基于稀疏表示的絕緣子掉串缺陷檢測方法,包括以下步驟:
第一步,手工提取多個(gè)絕緣子可見光圖像的單個(gè)盤片組成樣本庫,包括正常無故障及帶有掉串缺陷的兩種;
第二步,提取樣本庫中所有樣本的HOG特征,得到樣本的HOG特征矩陣H;
第三步,對H用PCA降維構(gòu)造超完備字典D;
第四步,對于待檢測絕緣子串,提取所有單個(gè)盤片Blockij,i=1,2,...,n,j=1,2,...,m,n表示待檢測絕緣子串的個(gè)數(shù),m表示每個(gè)絕緣子串的盤片個(gè)數(shù);
第五步,對每個(gè)Blockij,計(jì)算其HOG特征,并用PCA進(jìn)行降維,得到降維后的特征向量HPij;
第六步,將HPij輸入到稀疏表示分類器SRC中計(jì)算其與H矩陣中正常絕緣子盤片類和掉串絕緣子盤片類的誤差,Blockij對應(yīng)誤差較小的類別,以此判斷Blockij是否存在掉串缺陷;
第七步,如果Blockij為掉串缺陷,則記錄其位置,待所有Blockij檢測完畢后統(tǒng)一標(biāo)記掉串缺陷位置。
所述的第四步中,還包括利用圖像分割算法進(jìn)行絕緣子圖像分割的步驟,剔除背景干擾,將圖像分割成多個(gè)互不連通的區(qū)域,即疑似絕緣子區(qū)域塊。
所述的第四步中,還包括使用Otsu算法進(jìn)行絕緣子圖像分割,然后需要利用ASIFT(Affine scale-invariant feature transform)算法進(jìn)行疑似絕緣子區(qū)域塊的識別,將所有疑似絕緣子區(qū)域塊進(jìn)行ASIFT匹配,并與給定的閾值進(jìn)行比較,當(dāng)匹配點(diǎn)個(gè)數(shù)高于該閾值時(shí),確定該區(qū)域?yàn)榻^緣子區(qū)域;否則,該區(qū)域不含有絕緣子,為干擾因素,去除該區(qū)域。
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G06K9-60 .圖像捕獲和多種預(yù)處理作用的組合





