[發(fā)明專利]一種測定氧化鋁樣品中雜質(zhì)含量的方法及樣品預(yù)處理方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201610985522.0
• 申請日: 2016-11-09
• 公開（公告）號: CN106568643B
• 公開（公告）日: 2020-11-13
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 舒眾眾;李青;李兆廷;石志強(qiáng);李震;蔡軍興;魏文生;胡美紅;孔秀梅;張桂龍;楊靜怡
• 申請（專利權(quán)）人: 蕪湖東旭光電科技有限公司;東旭光電科技股份有限公司
• 主分類號: G01N1/44
• 分類號: G01N1/44;G01N21/73
• 代理公司: 北京英創(chuàng)嘉友知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11447
• 代理人: 耿超;王浩然

1.一種測試氧化鋁樣品中雜質(zhì)含量的方法，其特征在于，該方法包括：使待測氧化鋁樣品與高氯酸和濃磷酸混合后加熱溶解，得到待測溶液，其中，相對于1克的所述待測氧化鋁樣品，所述高氯酸的用量為12-16毫升，所述濃磷酸的用量為70-76毫升；

采用等離子發(fā)射光譜檢測儀檢測所述待測溶液中雜質(zhì)元素的含量，所述雜質(zhì)元素包括Na、Si、K、Ca、Ti、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Pb、Cd、Mg、Ba、Sr、Zn、Hg、As、Sb和Li中的至少一種；

其中，所述采用等離子發(fā)射光譜檢測儀檢測所述待測溶液中雜質(zhì)元素的含量的方法包括：

采用標(biāo)準(zhǔn)曲線法，利用等離子發(fā)射光譜檢測儀檢測所述待測溶液中的所述雜質(zhì)中Si元素的含量；以及

采用標(biāo)準(zhǔn)加入法，利用等離子發(fā)射光譜檢測儀檢測所述待測溶液中的其余所述雜質(zhì)元素的含量。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述高氯酸的質(zhì)量濃度為70.0％-72.0％，所述濃磷酸的質(zhì)量濃度為85.0％以上。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述的加熱溶解在鉑蒸發(fā)皿中進(jìn)行。

4.根據(jù)權(quán)利要求1或3所述的方法，其特征在于，所述加熱溶解的溫度為300-400℃。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述待測氧化鋁樣品的粒徑小于106μm。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，該方法包括：所述待測氧化鋁樣品經(jīng)洗滌、烘干和冷卻后與高氯酸和濃磷酸混合。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，該方法還包括：采用電感耦合等離子光譜發(fā)生儀對所述待測溶液進(jìn)行定性掃描，并根據(jù)所述定性掃描結(jié)果配制標(biāo)準(zhǔn)溶液。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的方法，其特征在于，所述定性掃描的掃描波長范圍為180nm-800nm。