[發明專利]背光源檢測裝置及檢測方法

在審

• 申請號: 201610980342.3
• 申請日: 2016-11-08
• 公開（公告）號: CN108072503A
• 公開（公告）日: 2018-05-25
• 發明（設計）人: 楊寶斌;劉慶威
• 申請（專利權）人: 京東方科技集團股份有限公司;京東方光科技有限公司
• 主分類號: G01M11/00
• 分類號: G01M11/00
• 代理公司: 北京中博世達專利商標代理有限公司 11274
• 代理人: 申健

1.一種背光源檢測裝置，其特征在于，包括：

壓膜機構，用于將膜放置于背光源的表面；

抽真空設備，用于對所述膜與所述背光源的表面之間的間隙抽真空，使所述膜對所述背光源的表面產生壓力。

2.根據權利要求1所述的背光源檢測裝置，其特征在于，所述壓膜機構包括：用于固定所述膜的支架，和驅動所述支架上升/下降的升降機構。

3.根據權利要求1所述的背光源檢測裝置，其特征在于，還包括：產品承載治具，用于承載待檢測的背光源；

所述產品承載治具上設置有氣孔，所述氣孔與所述抽真空設備通過管道相連通。

4.根據權利要求3所述的背光源檢測裝置，其特征在于，所述產品承載治具上設置有用于放置待檢測背光源的凹槽。

5.根據權利要求4所述的背光源檢測裝置，其特征在于，所述凹槽的深度使待檢測的背光源放置于所述凹槽時，所述背光源的表面高于所述凹槽的邊緣，或者與所述凹槽的邊緣相平。

6.根據權利要求4所述的背光源檢測裝置，其特征在于，所述氣孔設置于所述凹槽的側面，和/或，所述凹槽的底部。

7.根據權利要求1-6任一項所述的背光源檢測裝置，其特征在于，還包括：

控制器，與所述壓膜機構、所述抽真空設備相連，用于控制所述壓膜機構將所述膜置于所述背光源的表面，還用于在所述膜置于所述背光源的表面之后，控制所述抽真空設備對所述膜與所述背光源的表面之間的間隙抽真空，使所述膜對所述背光源的表面產生預設壓力值。

8.根據權利要求1-6任一項所述的背光源檢測裝置，其特征在于，還包括：亮點檢測裝置以及固定所述亮點檢測裝置的固定機構，所述亮點檢測裝置用于檢測壓力作用下所述背光源的表面是否存在亮點。

9.根據權利要求7所述的背光源檢測裝置，其特征在于，還包括：

開關機構，設置于所述氣孔與所述抽真空設備之間的管道上，所述開關機構的控制端與所述控制器相連。

10.根據權利要求9所述的背光源檢測裝置，其特征在于，還包括：

壓力傳感器，用于測量所述膜與所述背光源的表面之間的間隙內的空氣壓力/壓強，并傳遞給所述控制器；

所述控制器根據所述間隙內的空氣壓力/壓強控制所述開關機構。

11.根據權利要求2所述的背光源檢測裝置，其特征在于，還包括：主支架，所述升降機構以可活動方式設置于所述主支架上。

12.一種背光源檢測方法，包括：

將膜放置于背光源的表面；

對所述膜與所述背光源的表面之間的間隙抽真空，使所述膜對所述背光源的表面產生壓力；

測試是否存在按壓亮點。

13.根據權利要求12所述的檢測方法，其特征在于，所述將膜放置于背光源的表面之前，還包括：通過轉盤將背光源及產品承載治具轉至壓膜機構的固定膜的支架的正下方，并在完成后給出待檢品到位信號；

所述將膜放置于背光源的表面，包括：在壓膜機構接收到根據所述檢品到位信號生成的膜放置指令后，所述壓膜機構的升降機構帶動膜及固定所述膜的支架下降，將膜覆蓋于產品表面，并在完成后給出下降到位信號；

所述對所述膜與所述背光源的表面之間的間隙抽真空，包括：所述抽真空設備接收到根據所述下降到位信號生成的抽真空指令后，所述抽真空設備開始通過所述產品承載治具上的氣孔對所述膜與所述背光源的表面之間的間隙抽真空，并在經過預設時間或者真空度達到預設值時給出允許檢測的信號；

所述測試是否存在按壓亮點，包括：亮點檢測裝置接收到根據所述允許檢測的信號生成的檢測指令后，所述亮點檢測裝置對背光源表面進行亮點檢測，并在亮點檢測完成后給出亮點檢測完成信號。