[發(fā)明專利]一種參考信號的測量方法和裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201610978479.5
• 申請日: 2016-11-04
• 公開（公告）號: CN108023717B
• 公開（公告）日: 2021-08-20
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 李雪茹;劉鹍鵬;曲秉玉
• 申請（專利權(quán)）人: 華為技術(shù)有限公司
• 主分類號: H04L5/00
• 分類號: H04L5/00;H04W24/10
• 代理公司: 廣州三環(huán)專利商標代理有限公司 44202
• 代理人: 熊永強;李稷芳

1.一種信道測量的方法，其特征在于，包括：

基站向用戶設(shè)備UE發(fā)送第一控制信息，所述第一控制信息用于指示所述UE在一個載波上的測量參考信號，其中，所述第一控制信息中包含至少一個第一測量配置集合，用于指示所述UE根據(jù)所述至少一個第一測量配置集合測量所述測量參考信號；

所述基站向所述UE發(fā)送所述測量參考信號；

所述基站向所述UE發(fā)送第二控制信息，其中，所述第二控制信息包含至少一個第二測量配置集合，用于指示所述UE根據(jù)所述至少一個第二測量配置集合和所述測量參考信號上報測量結(jié)果，其中，至少一個第二測量配置集合與一個第一測量配置集合不同；

在所述第一控制信息和所述第二控制信息中，只在所述第二控制信息中包含上行資源分配信息，所述上行資源分配信息用于指示所述UE上報所述測量結(jié)果的信道資源；

其中，

所述第一控制信息中包含至少一個第一測量配置集合包括：

所述第一控制信息中包含第一測量方式集合；所述第一測量方式集合包含至少一個測量所述測量參考信號的方式，其中，所述測量參考信號的方式為所述UE測量所述測量參考信號的方式，所述第二控制信息中包含第二測量方式集合；所述第二測量方式集合為所述第一測量方式集合的子集；

或者

所述第一控制信息中包含至少一個第一測量配置集合包括：

所述第一控制信息中包含第一測量類型集合；所述第一測量類型集合包含所述測量結(jié)果的類型，其中，所述測量結(jié)果的類型為所述UE測量所述測量參考信號的測量結(jié)果的類型，所述第二控制信息中包含第二測量類型集合；所述第二測量類型集合為所述第一測量類型集合的子集。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一測量方式集合包含下列測量方式的一個或多個：開環(huán)MIMO發(fā)射方法的測量，半開環(huán)MIMO發(fā)射方法的測量，閉環(huán)MIMO發(fā)射方法的測量，發(fā)射分集發(fā)射方法的測量和單天線發(fā)射方法的測量，單用戶MIMO發(fā)射方法的測量，多用戶MIMO發(fā)射方法的測量。

3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法，其特征在于：

所述第二控制信息中包含第二測量類型集合；所述第二測量類型集合包含所述測量結(jié)果的類型，所述第二測量類型集合中，至少有一個所述測量結(jié)果的類型是根據(jù)所述第一測量類型集合中的測量結(jié)果的類型確定的。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，所述第一測量類型集合包含下列測量方式的一個或多個：

預(yù)編碼矩陣指示PMI，信道質(zhì)量指示CQI，秩指示RI，波束指示CRI，信道矩陣，信道特征向量，信道空間協(xié)方差矩陣。

5.根據(jù)權(quán)利要求1至4任意一項所述的方法，其特征在于，所述第一控制信息中包含至少一個第一測量配置集合包括：

所述第一控制信息中包含第一測量粒度集合；所述第一測量粒度集合包含所述測量結(jié)果的粒度，其中，所述測量結(jié)果的粒度為所述UE測量所述測量參考信號的測量結(jié)果的粒度。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于：

所述第二控制信息中包含第二測量粒度集合；所述第二測量粒度集合為所述第一測量粒度集合的子集。

7.根據(jù)權(quán)利要求1至6任意一項所述的方法，其特征在于：所述第一控制信息為下行控制信息DCI或多址接入控制元素MAC CE；和/或

所述第二控制信息為下行控制信息DCI。