[發明專利]測量裝置

在審

• 申請號: 201610974213.3
• 申請日: 2016-11-04
• 公開（公告）號: CN108020126A
• 公開（公告）日: 2018-05-11
• 發明（設計）人: 張志波;白曦東;張晶
• 申請（專利權）人: 北京博維恒信科技發展有限公司
• 主分類號: G01B3/20
• 分類號: G01B3/20;G01B5/02;G01B5/08;G01B5/12;G01B5/18
• 代理公司: 北京匯思誠業知識產權代理有限公司 11444
• 代理人: 王剛;龔敏

1.一種測量裝置，其特征在于，包括第一本體、第二本體、基準測量部、第一測量部和第二測量部；

所述第一測量部和所述第二測量部均安裝于所述第一本體上，且兩者之間的距離為預設值；

所述第二本體伸縮連接于所述第一本體上，所述基準測量部安裝于所述第二本體上，所述第一測量部的測量位置位于所述基準測量部的測量位置與所述第二測量部的測量位置之間，所述第二本體上具有測量刻度；

在所述第二本體的伸縮行程上，所述測量裝置所測得的值為所述基準測量部與所述第一測量部之間的距離，或者所述距離與所述預設值之和。

2.根據權利要求1所述的測量裝置，其特征在于，所述基準測量部、所述第一測量部和所述第二測量部中的至少一者為測量臂。

3.根據權利要求2所述的測量裝置，其特征在于，所述基準測量部與所述第二本體活動連接，和/或，所述第一測量部與所述第一本體活動連接，和/或，所述第二測量部與所述第一本體活動連接。

4.根據權利要求3所述的測量裝置，其特征在于：

所述基準測量部相對于所述第二本體具有第一平移行程和第一轉動行程，所述第一平移行程形成于所述基準測量部遠離所述第二本體的過程中，所述第一轉動行程形成于所述基準測量部相對于所述第二本體轉動的過程中；

所述第一測量部相對于所述第一本體具有第二平移行程和第二轉動行程，所述第二平移行程形成于所述第一測量部遠離所述第一本體的過程中，所述第二轉動行程形成于所述第一測量部相對于所述第一本體轉動的過程中；

所述第二測量部相對于所述第一本體具有第三平移行程和第三轉動行程，所述第三平移行程形成于所述第二測量部遠離所述第一本體的過程中，所述第三轉動行程形成于所述第二測量部相對于所述第一本體轉動的過程中。

5.根據權利要求4所述的測量裝置，其特征在于，沿著所述第二本體的伸縮方向得到的投影內，所述基準測量部與所述第二本體的連接處的投影、所述第一測量部與所述第一本體的連接處的投影、所述第二測量部與所述第一本體的連接處的投影互不重疊。

6.根據權利要求4所述的測量裝置，其特征在于，還包括限位部，所述限位部用于限定所述基準測量部、所述第一測量部和所述第二測量部中的至少一者的轉動位置。

7.根據權利要求2所述的測量裝置，其特征在于：

所述第一本體上設置第一卡槽，所述第一測量部卡接于所述第一卡槽內；

和/或，所述第一本體上設置第二卡槽，所述第二測量部卡接于所述第二卡槽內；

和/或，所述第二本體上設置第三卡槽，所述基準測量部卡接于所述第三卡槽內。

8.根據權利要求1所述的測量裝置，其特征在于，所述基準測量部與所述第一測量部之間的最大測量距離等于所述預設值。

9.根據權利要求1-8任一項所述的測量裝置，其特征在于，還包括固定在所述第一本體上的電子測量尺，所述電子測量尺用于獲取所述測量裝置的測量結果。

10.根據權利要求1-8任一項所述的測量裝置，其特征在于，所述第二本體包括內套伸縮部和外露限位部，所述內套伸縮部內套于所述第一本體，所述外露限位部上具有限位凸部，所述限位凸部能夠沿著所述第二本體的伸縮方向與所述第一本體擋接。