[發(fā)明專利]一種用于光學元件反射率/透過率測量的綜合測量裝置在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201610973144.4 | 申請日： | 2016-11-04 |
| 公開（公告）號： | CN106441817A | 公開（公告）日： | 2017-02-22 |
| 發(fā)明（設計）人： | 李斌成;崔浩;王靜 | 申請（專利權(quán)）人： | 電子科技大學 |
| 主分類號： | G01M11/02 | 分類號： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 611731 四川省成*** | 國省代碼： | 四川;51 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 用于 光學 元件 反射率 透過 測量 綜合 裝置 | ||
【權(quán)利要求書】：
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