[發明專利]一種成像方法和裝置

有效

• 申請號: 201610971350.1
• 申請日: 2016-10-28
• 公開（公告）號: CN107678058B
• 公開（公告）日: 2019-06-11
• 發明（設計）人: 葉月明;李立勝;劉午牛;王啟迪;邵萌珠
• 申請（專利權）人: 中國石油天然氣股份有限公司
• 主分類號: G01V1/28
• 分類號: G01V1/28
• 代理公司: 北京三友知識產權代理有限公司 11127
• 代理人: 李輝;徐煥

本發明提供了一種成像方法和裝置，其中，該方法包括：獲取待測地層多個采樣點在傾角域多個傾角中各個傾角的成像結果；獲取待測地層多個采樣點在傾角域多個傾角中各個傾角的補償因子；根據成像結果、補償因子和預設參數，確定多個傾角中各個傾角補償后的成像結果；對多個傾角中各個傾角補償后的成像結果進行累加，將累加結果作為待測地層的成像結果。在本發明實施例中，在更符合地下波場傳播規律的傾角域對待測地層的成像結果進行分析，并利用補償因子對成像結果進行補償，最后將各個傾角補償后的成像結果進行累加得到待測地層的成像結果，解決了由于起伏地表波場散射對波場的屏蔽所導致的成像精度較低的問題，提高了起伏地表的成像精度。

技術領域

本發明涉及地質勘探技術領域，特別涉及一種成像方法和裝置。

背景技術

地震偏移成像可以是對地震數據偏移處理后得到的深度域偏移圖像。偏移圖像的好壞可以影響后續的地質解釋，從而影響油氣儲層的識別。對于地下構造復雜、地表也復雜的地區而言，可以利用高程靜校正技術解決起伏地表面對偏移成像的影響。然而，該方法假設地表具有一致性，可以適用于在地表起伏較小、低速帶橫向變化緩慢，地下淺、中、深層的反射經過低速帶時幾乎垂直入射至地表的情況。對于地表起伏較大、橫向變化劇烈的地區，采用高程靜校正進行偏移成像時效果較差。

進一步地，為解決起伏地表變化劇烈對地下構造成像的影響，目前主要有以下幾種方法：

1)采用直接從起伏地表最高基準面向下進行波場延拓、逐步累加的方法來消除起伏地表的影響；

2)采用“零速層”的概念，在起伏面和基準面之間插入一個速度很小的虛擬層的方法來消除起伏地表的影響；

3)采用基于波動方程深度外推算子“直接下延”的方法來消除起伏地表的影響；

4)采用“波場上延”的方法來消除起伏地表的影響；

5)采用基于保幅波場延拓算子的雙復雜地區保幅疊前深度偏移的方法來消除起伏地表的影響。

然而，上述方法的主要目的是解決地表起伏面的影響，對于一些地下構造復雜的地區而言，采用上述方法成像時，由于復雜地表和地下構造可以導致波場的散射和屏蔽導致地下照明不足，極大的影響了起伏地表的成像精度。

針對上述起伏地表的成像精度較低的問題，目前尚未提出有效的解決方案。

發明內容

本發明實施例提供了一種成像方法和裝置，以解決現有技術中起伏地表的成像精度較低的問題。

本發明實施例提供了一種成像方法，包括：獲取待測地層多個采樣點在傾角域多個傾角中各個傾角的成像結果；獲取所述待測地層多個采樣點在傾角域多個傾角中各個傾角的補償因子；根據所述成像結果、所述補償因子和預設參數，確定所述多個傾角中各個傾角補償后的成像結果；對所述多個傾角中各個傾角補償后的成像結果進行累加，將累加結果作為所述待測地層的成像結果。

在一個實施例中，按照以下公式對所述多個傾角中各個傾角補償后的成像結果進行累加：

其中，image(x,z+Δz)表示所述待測地層中橫向位置為x、深度為z+Δz的采樣點在傾角域多個傾角中各個傾角補償后的成像結果進行累加的結果，L_iFinal(x_i,z_i+Δz)表示所述待測地層中橫向位置為x、深度為z+Δz的采樣點在傾角為i時進行補償后的成像結果，θ_min≤i≤θ_max，其中，θ_min表示所述待測地層中橫向位置為x、深度為z+Δz的采樣點在傾角域多個傾角的最小值，θ_max表示所述待測地層中橫向位置為x、深度為z+Δz的采樣點在傾角域多個傾角的最大值，Δz表示預設步長。