[發(fā)明專(zhuān)利]多目標(biāo)晶圓測(cè)試方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201610969560.7 | 申請(qǐng)日: | 2016-10-28 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN106353670A | 公開(kāi)(公告)日: | 2017-01-25 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 凌儉波;張志勇;湯雪飛;余琨;陳燕 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 上海華嶺集成電路技術(shù)股份有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01R31/28 | 分類(lèi)號(hào): | G01R31/28;G01R31/01 |
| 代理公司: | 上海思微知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙)31237 | 代理人: | 智云 |
| 地址: | 201203 上海市浦*** | 國(guó)省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 多目標(biāo) 測(cè)試 方法 | ||
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- 同類(lèi)專(zhuān)利
- 專(zhuān)利分類(lèi)
G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
- 用于實(shí)現(xiàn)多目標(biāo)方業(yè)務(wù)或操作的方法和裝置
- 基于智能視頻分析平臺(tái)的多目標(biāo)跟蹤方法及其系統(tǒng)
- 多目標(biāo)設(shè)計(jì)選擇方法和系統(tǒng)
- 一種針對(duì)多目標(biāo)的地面導(dǎo)航系統(tǒng)及其方法
- 一種無(wú)斷點(diǎn)多目標(biāo)信號(hào)合成方法
- 基于多智能體深度增強(qiáng)學(xué)習(xí)的多目標(biāo)跟蹤方法
- 一種多目標(biāo)跟蹤方法
- 一種航空紅外視頻多目標(biāo)檢測(cè)與跟蹤方法及裝置
- 一種多目標(biāo)推薦方法、多目標(biāo)推薦模型生成方法以及裝置
- 一種區(qū)域多目標(biāo)衛(wèi)星探測(cè)仿真方法及系統(tǒng)
- 軟件測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法
- 自動(dòng)化測(cè)試方法和裝置
- 一種應(yīng)用于視頻點(diǎn)播系統(tǒng)的測(cè)試裝置及測(cè)試方法
- Android設(shè)備的測(cè)試方法及系統(tǒng)
- 一種工廠測(cè)試方法、系統(tǒng)、測(cè)試終端及被測(cè)試終端
- 一種軟件測(cè)試的方法、裝置及電子設(shè)備
- 測(cè)試方法、測(cè)試裝置、測(cè)試設(shè)備及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)
- 測(cè)試裝置及測(cè)試系統(tǒng)
- 測(cè)試方法及測(cè)試系統(tǒng)
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