[發(fā)明專利]在沒有校準(zhǔn)靶標(biāo)的情況下的計(jì)算機(jī)斷層掃描自校準(zhǔn)在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201610969513.2 | 申請日： | 2016-08-05 |
| 公開（公告）號： | CN106530335A | 公開（公告）日： | 2017-03-22 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | A·肯;B·K·B·德曼;J·D·佩克;J·C·布特;E·漢達(dá) | 申請（專利權(quán)）人： | 通用電氣公司 |
| 主分類號： | G06T7/30 | 分類號： | G06T7/30 |
| 代理公司： | 中國專利代理(香港)有限公司72001 | 代理人： | 鄭浩,姜甜 |
| 地址： | 美國*** | 國省代碼： | 暫無信息 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 沒有 校準(zhǔn) 靶標(biāo) 情況 計(jì)算機(jī) 斷層 掃描 | ||
【權(quán)利要求書】：
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