[發明專利]高選擇性測定痕量TNP的水溶性熒光硅納米顆粒合成及應用有效
| 申請號： | 201610964476.6 | 申請日： | 2016-11-04 |
| 公開（公告）號： | CN106544012B | 公開（公告）日： | 2019-11-26 |
| 發明（設計）人： | 陳興國;韓羊霞;陳永雷 | 申請（專利權）人： | 蘭州大學 |
| 主分類號： | C09K11/06 | 分類號： | C09K11/06;C07F7/18;G01N21/64 |
| 代理公司： | 11212 北京輕創知識產權代理有限公司 | 代理人： | 談杰<國際申請>=<國際公布>=<進入國 |
| 地址： | 730000 甘肅*** | 國省代碼： | 甘肅;62 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 選擇性 測定 痕量 tnp 水溶性 熒光 納米 顆粒 合成 應用 | ||
【說明書】：
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