[發明專利]極化碼生成方法和裝置

在審

• 申請號: 201610959656.5
• 申請日: 2016-10-27
• 公開（公告）號: CN108011689A
• 公開（公告）日: 2018-05-08
• 發明（設計）人: 王閏昕;那崇寧;蔣惠玲
• 申請（專利權）人: 株式會社NTT都科摩
• 主分類號: H04L1/00
• 分類號: H04L1/00
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所 11105
• 代理人: 于小寧;李文娟

1.一種極化碼生成方法，包括：

獲取具有第一碼長的母碼，以及獲取目標子碼的第二碼長；

根據所述第一碼長與所述第二碼長的關系，對所述母碼進行逐比特打孔或者逐比特擴展，以生成具有第二碼長的目標子碼。

2.如權利要求1所述的方法，其中，根據所述第一碼長與所述第二碼長的關系，對所述母碼進行逐比特打孔或者逐比特擴展包括：

當所述第一碼長大于所述第二碼長時，對所述母碼進行逐比特的打孔；

當所述第一碼長小于所述第二碼長時，對所述母碼進行逐比特的擴展。

3.如權利要求2所述的方法，其中，所述當所述第一碼長大于所述第二碼長時，對所述母碼進行逐比特的打孔包括：

步驟A1：對于所述母碼中的每個比特，計算當所述比特被打孔時母碼中的剩余比特所構成的第一子碼的性能指示參數；

步驟A2：根據步驟A1中各第一子碼的性能指示參數選擇最優比特位進行打孔，生成第二子碼，

當所述第二子碼的碼長等于所述第二碼長時，將所述第二子碼作為所述目標子碼；否則，執行步驟A3；

步驟A3：對于所述第二子碼中的每個未被打孔的比特，計算當所述比特被打孔時所述第二子碼中剩余比特所構成的第三子碼的性能指示參數；

步驟A4：根據步驟A3中各第三子碼的性能指示參數選擇最優比特位進行打孔，生成第四子碼，

當所述第四子碼的碼長等于所述第二碼長時，將所述第四子碼作為所述目標子碼；否則，將所述第四子碼作為更新后的第二子碼，重復執行所述步驟A3-A4。

4.如權利要求2所述的方法，其中，

所述母碼由基礎極化碼打孔獲得。

5.如權利要求4所述的方法，其中，所述當所述第一碼長小于所述第二碼長時，對所述母碼進行逐比特的擴展包括：

步驟B1：對于所述母碼中的每個已被打孔的比特，計算當所述比特被恢復時所述母碼與所述比特所構成的第五子碼的性能指示參數；

步驟B2：根據步驟B1中各第五子碼的性能指示參數選擇最優比特位進行恢復，生成第六子碼，

當所述第六子碼的碼長等于所述第二碼長時，將所述第六子碼作為所述目標子碼；否則，執行步驟B3；

步驟B3：對于所述第六子碼中的每個已被打孔的比特，計算當所述比特被恢復時所述第六子碼與所述比特所構成的第七子碼的性能指示參數；

步驟B4：根據步驟B3中各第七子碼的性能指示參數選擇最優比特位進行恢復，生成第八子碼，

當所述第八子碼的碼長等于所述第二碼長時，將所述第八子碼作為所述目標子碼；否則，將所述第八子碼作為更新后的第六子碼，重復執行所述步驟B3-B4。

6.如權利要求4所述的方法，其中，所述方法還包括：

通過逐比特擴展生成的所述目標子碼的第二碼長大于所述基礎極化碼的碼長。

7.如權利要求3所述的方法，其中，

所述性能指示參數為誤幀率；

所述根據步驟A1中各第一子碼的性能指示參數選擇最優比特位進行打孔包括：選擇使得所述第一子碼的誤幀率最低的比特位為所述最優比特位；

所述根據步驟A3中各第三子碼的性能指示參數選擇最優比特位進行打孔包括：選擇使得所述第三子碼的誤幀率最低的比特位為所述最優比特位。

8.如權利要求5所述的方法，其中，

所述性能指示參數為誤幀率；

所述根據步驟B1中各第五子碼的性能指示參數選擇最優比特位進行恢復包括：選擇使得所述第五子碼的誤幀率最低的比特位為所述最優比特位；

所述根據步驟B3中各第七子碼的性能指示參數選擇最優比特位進行恢復包括：選擇使得所述第七子碼的誤幀率最低的比特位為所述最優比特位。

9.如權利要求3所述的方法，其中，所述方法還包括：

當所述比特被打孔時，使用第一初始化方式初始化所述比特的對數似然比。