[發明專利]光譜檢測處理裝置、方法以及藥品真偽判定系統

有效

• 申請號: 201610955610.6
• 申請日: 2016-10-27
• 公開（公告）號: CN108007873B
• 公開（公告）日: 2020-12-08
• 發明（設計）人: 陸峰;柳艷;陳輝;朱青霞;陳秀娟;李皓
• 申請（專利權）人: 中國人民解放軍第二軍醫大學
• 主分類號: G01N21/25
• 分類號: G01N21/25;G01N21/65
• 代理公司: 上海德昭知識產權代理有限公司 31204
• 代理人: 郁旦蓉

1.一種光譜檢測處理裝置，對來自于不同光譜數據采集系統的不同藥品光譜進行質量檢測，并對進行質量檢測后合格的所述藥品光譜進行處理，其特征在于，包括：

光譜質量檢測部分和光譜處理部分，

其中，所述光譜質量檢測部分用于對不同的所述藥品光譜的質量進行檢測，從而保證藥品光譜質量符合關于藥品的后續真偽判定的分析要求，具有：

接收部，接收多個所述藥品光譜，與該藥品光譜相對應并且至少含位移值、強度值、噪聲值和與所述光譜數據采集系統相對應的最大量程值的原始光譜數據；

第一獲取判斷部，從所述原始光譜數據中獲取最大位移值和最小位移值，并判斷是否滿足所述最小位移值小于預定下限值，所述最大位移值大于預定上限值的第一條件；

第一設定部，當判斷滿足所述第一條件時，設定所述藥品光譜為第一條件合格光譜；

第二獲取判斷部，從所述原始光譜數據中獲取最大強度值，并判斷是否滿足所述最大強度值小于所述最大量程值的第二條件；

第二設定部，當判斷滿足所述第二條件時，設定所述藥品光譜為第二條件合格光譜；

第三獲取判斷部，根據預定獲取規則從所述原始光譜數據的所述強度值中獲取預定數量的極大值，并將該極大值作為特征峰值，同時獲取與該特征峰值相對應的噪聲值，并判斷是否滿足所述特征峰值和所述噪聲值的比值在預定比值范圍內的第三條件；

第三設定部，當判斷滿足所述第三條件時，設定所述藥品光譜為第三條件合格光譜；

判定部，當所述藥品光譜被設定為第一條件合格光譜、第二條件合格光譜、第三條件合格光譜時，判定所述藥品光譜為合格光譜，

光譜處理部分，當合格光譜的個數大于等于預定個數時，分別對各個合格光譜進行處理，并將處理完的各個合格光譜進行合并處理得到合并光譜，最后設定所述合并光譜為最終光譜，

所述預定下限值為200，所述預定比值范圍為0.5到3000，

所述光譜處理部分具有：

像素壞點判斷處理部，判斷所述合格光譜是否存在像素壞點，當存在所述像素壞點時，對存在所述像素壞點的所述合格光譜進行像素壞點修復處理得到像素修復光譜，

所述像素壞點判斷處理部包括：

平均暗電流值計算單元，從所述合格光譜中獲取暗電流值后求平均得到平均暗電流值；

暗電流方差計算單元，對所述暗電流值進行方差計算，得到暗電流方差值；

預定范圍計算單元，將所述平均暗電流值與2-8倍的暗電流方差值進行相減和相加計算，得到預定范圍；

像素壞點判斷單元，判斷所述合格光譜的暗電流值是否滿足在所述預定范圍的條件；

壞點相鄰位移值獲取單元，獲取位于不在所述預定范圍的所述暗電流值對應的位移值的前后的兩個相鄰位移值；

修復強度值計算單元，分別獲取所述兩個相鄰位移值分別對應的強度值并求平均得到修復強度值；

像素壞點修復單元，將與所述不在所述預定范圍的暗電流值相對應的強度值，替換為所述修復強度值，得到所述像素壞點修復光譜。

2.根據權利要求1所述的光譜檢測處理裝置，其特征在于：

其中，所述光譜處理部分具有：

背景扣除處理部，根據預定扣除方法對所述像素修復光譜或判斷不存在所述像素壞點的所述合格光譜進行背景扣除處理得到背景扣除光譜；

平滑處理部，根據預定平滑方法對所述背景扣除光譜進行平滑處理得到平滑光譜；

光譜相似度計算部，計算所述平滑光譜的相似度；

光譜合格率判斷部，判斷所述相似度大于或等于預定閾值的所述平滑光譜的合格率是否滿足預定合格率；

光譜合并部，當所述合格率滿足預定合格率時，按預定合并方法，將所述相似度大于或等于預定閾值的平滑光譜進行合并得到所述合并光譜；

最終光譜設定部，設定所述合并光譜為所述最終光譜。

3.根據權利要求1所述的光譜檢測處理裝置，其特征在于：

其中，當所述第一獲取判斷部判斷不滿足所述第一條件、所述第二獲取判斷部判斷不滿足所述第二條件、或者所述第三獲取判斷部判斷不滿足所述第三條件時，所述判定部判定所述藥品光譜為不合格光譜。

4.根據權利要求1所述的光譜檢測處理裝置，其特征在于：

其中，當所述合格光譜的個數小于預定個數時，所述光譜處理部分不對所述合格光譜進行處理。