[發明專利]光譜檢測修正裝置、方法以及藥品真偽判定系統有效
| 申請號: | 201610955520.7 | 申請日: | 2016-10-27 |
| 公開(公告)號: | CN108007872B | 公開(公告)日: | 2020-12-25 |
| 發明(設計)人: | 陸峰;柳艷;陳輝;朱青霞;陳秀娟;武媚然 | 申請(專利權)人: | 中國人民解放軍第二軍醫大學 |
| 主分類號: | G01N21/25 | 分類號: | G01N21/25 |
| 代理公司: | 上海德昭知識產權代理有限公司 31204 | 代理人: | 郁旦蓉 |
| 地址: | 200433 *** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 光譜 檢測 修正 裝置 方法 以及 藥品 真偽 判定 系統 | ||
1.一種光譜檢測修正裝置,對來自于不同光譜數據采集系統的不同藥品光譜進行質量檢測,并基于存儲有與預定采集系統型號相對應的不同標準物質的預定標準物質光譜的標準物質光譜庫,對進行質量檢測后合格的所述藥品光譜進行修正處理,其特征在于,包括:
光譜質量檢測部分和光譜修正部分,
其中,所述光譜質量檢測部分用于對不同的所述藥品光譜的質量進行檢測,從而保證藥品光譜質量符合關于藥品的后續真偽判定的分析要求,具有:
接收部,接收所述藥品光譜,與該藥品光譜相對應并且至少含有藥品名稱、位移值、強度值、噪聲值、最大響應參考值和光譜采集系統型號,以及與所述光譜采集系統相對應的校正標準物質名稱以及相應的校正標準物質光譜;
第一獲取判斷部,從原始光譜數據中獲取最大位移值和最小位移值,并判斷是否滿足所述最小位移值小于預定下限值,所述最大位移值大于預定上限值的第一條件;
第一設定部,當判斷滿足所述第一條件時,設定所述藥品光譜為第一條件合格光譜;
第二獲取判斷部,從所述原始光譜數據中獲取最大強度值,并判斷是否滿足所述最大強度值小于最大量程值的第二條件;
第二設定部,當判斷滿足所述第二條件時,設定所述藥品光譜為第二條件合格光譜;
第三獲取判斷部,根據預定獲取規則從所述原始光譜數據的所述強度值中獲取預定數量的極大值,并將該極大值作為特征峰值,同時獲取與該特征峰值相對應的噪聲值,并判斷是否滿足所述特征峰值和所述噪聲值的比值在預定比值范圍內的第三條件;
第三設定部,當判斷滿足所述第三條件時,設定所述藥品光譜為第三條件合格光譜;
判定部,當所述藥品光譜被設定為第一條件合格光譜、第二條件合格光譜、第三條件合格光譜時,判定所述藥品光譜為合格光譜,
所述光譜修正部分用于并基于所述標準物質光譜庫,對所述合格光譜進行修正,并將修正完的所述合格光譜設定為最終光譜,
所述預定下限值為150到250中的任意一個值,
所述預定上限值為2500~2700中的任意一個值,
所述預定比值范圍為2到100。
2.根據權利要求1所述的光譜檢測修正裝置,其特征在于:
其中,所述光譜修正部分具有:
搜索獲取部,基于所述校正標準物質名稱,從所述標準物質光譜庫中搜索并獲取相應的預定標準物質光譜;
局部最大值獲取部,根據預定獲取方法,從所述預定標準物質光譜中獲取標準局部最大值,并從所述校正標準物質光譜中獲取校正局部最大值;
位移偏差值計算部,從所述預定標準物質光譜中獲取與所述標準局部最大值相對應的標準位移值,并從所述校正標準物質光譜中獲取與所述局部最大值相對應的校正位移值,將所述標準位移值與所述校正位移值相減,得到位移偏差值;
位移修正曲線擬合部,以所述標準位移值的數值為橫坐標,按預定擬合方法對所述位移偏差值進行擬合得到相應的位移修正曲線,該位移修正曲線的縱坐標稱為位移修正值;
位移修正部,基于所述位移修正曲線,對所述合格光譜進行位移值修正計算得到位移修正光譜;以及
最終光譜設定部,設定所述位移修正光譜為最終光譜。
3.根據權利要求1所述的光譜檢測修正裝置,其特征在于:
其中,所述預定獲取規則為:當所述極大值的附近連續數值內所述強度值上升、同時連續數值內所述強度值下降時,設定所述極大值為特征峰值,所述連續數值為3~21中任意一個奇數值。
4.根據權利要求2所述的光譜檢測修正裝置,其特征在于:
其中,所述位移修正部包括:
位移修正值獲取單元,基于所述合格光譜或平滑光譜的位移值,從所述位移修正曲線中獲取相應的所述位移修正值;
位移修正計算單元,將獲取的所述位移修正值與相應的所述位移值進行相加。
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