[發明專利]陣列基板檢測裝置及檢測方法

在審

• 申請號: 201610950549.6
• 申請日: 2016-10-26
• 公開（公告）號: CN106601159A
• 公開（公告）日: 2017-04-26
• 發明（設計）人: 王文濤;楊璐;徐海峰;王子峰;司曉文;王金鋒;姚磊;閆雷
• 申請（專利權）人: 京東方科技集團股份有限公司;鄂爾多斯市源盛光電有限責任公司
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00
• 代理公司: 北京天昊聯合知識產權代理有限公司11112
• 代理人: 姜春咸,陳源

1.一種陣列基板檢測裝置，其特征在于，包括：

電極板，用于與待檢測的陣列基板相對設置，所述電極板包括多個彼此絕緣的電極部；

檢測模塊，所述檢測模塊與每個所述電極部均相連，用于檢測每個所述電極部上的電信號。

2.根據權利要求1所述的陣列基板檢測裝置，其特征在于，所述陣列基板檢測裝置還包括：

電源模塊，用于向待檢測的陣列基板充電。

3.根據權利要求1所述的陣列基板檢測裝置，其特征在于，所述檢測模塊還用于獲取每個電極部的位置；所述陣列基板檢測裝置還包括：

處理模塊，所述處理模塊與所述檢測模塊相連，用于將每個電極部上的電信號與標準電信號范圍進行對比，當每個電信號均位于標準電信號范圍內時，判定所述陣列基板正常；當存在超出所述標準電信號范圍的電信號時，獲取該電信號對應的電極部的位置。

4.根據權利要求3所述的陣列基板檢測裝置，其特征在于，所述處理模塊還用于獲取所述檢測模塊所測得的各個電信號的平均值和與所述陣列基板對應的預設波動值，并將[v0-Δv,v0+Δv]作為所述標準電信號范圍，其中，v0為所述電信號的平均值，Δv為所述預設波動值。

5.根據權利要求1至4中任意一項所述的陣列基板檢測裝置，其特征在于，所述電極部排列為多行多列。

6.根據權利要求1至4中任意一項所述的陣列基板檢測裝置，其特征在于，每個電極部均與所述待檢測的陣列基板的1～100個像素單元對應。

7.根據權利要求1至4中任意一項所述的陣列基板檢測裝置，其特征在于，所述電極板還包括絕緣基底，所述電極部設置在所述絕緣基底上。

8.一種利用權利要求1至7中任意一項所述的陣列基板檢測裝置對陣列基板進行檢測的檢測方法，其特征在于，所述檢測方法包括：

將所述陣列基板檢測裝置的電極板與待檢測的陣列基板相對且絕緣間隔設置，以使得每個電極部與所述待檢測的陣列基板均形成電容；

向所述待檢測的陣列基板充電；

利用所述檢測模塊檢測每個電極部上的電信號，以根據每個電極部上的電信號判斷所述陣列基板是否異常。

9.根據權利要求8所述的檢測方法，其特征在于，所述檢測方法還包括：

檢測每個電極部的位置；

將每個電極部上的電信號與標準電信號范圍進行對比，當每個電信號均位于標準電信號范圍內時，判定陣列基板正常；當存在位于所述標準電信號范圍以外的電信號時，獲取與該電信號對應的電極部的位置。

10.根據權利要求9所述的檢測方法，其特征在于，將每個電極部上的電信號與標準電信號范圍進行對比的步驟之前還包括：

獲取所有電信號的平均值和與所述陣列基板對應的預設波動值；

將[v0-Δv,v0+Δv]作為所述標準電信號范圍，其中，v0為所述電信號的平均值，Δv為所述預設波動值。